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XPs-Peak-Kalibrierung

Für die XPs-Peak-Kalibrierung gibt es insgesamt 7 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst XPs-Peak-Kalibrierung die folgenden Kategorien: analytische Chemie.


National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, XPs-Peak-Kalibrierung

American Society for Testing and Materials (ASTM), XPs-Peak-Kalibrierung

  • ASTM E2735-13 Standardhandbuch für die Auswahl der für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Experimente (XPS) erforderlichen Kalibrierungen

International Organization for Standardization (ISO), XPs-Peak-Kalibrierung

  • ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
  • ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall

British Standards Institution (BSI), XPs-Peak-Kalibrierung

  • BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS




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