ZH
RU
EN

fuerza atómica

fuerza atómica, Total: 46 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en fuerza atómica son: Química analítica, Física. Química, Materiales para la construcción aeroespacial., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Cerámica.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, fuerza atómica

SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
SPB-M6-1-2010 08 de abril: Propiedades interfaciales y reológicas de los asfaltenos investigadas utilizando AFM
SPB-M14-1-2010 10 de septiembre: Interacciones y propiedades reológicas de los asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
SPB-M6-2-2010 08 de abril: Interacciones coloidales entre asfalteno y diferentes superficies medidas mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)

International Organization for Standardization (ISO), fuerza atómica

ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
ISO/DIS 19606:2023 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica
ISO 19606:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada) - Método de ensayo para la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.

British Standards Institution (BSI), fuerza atómica

BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
BS ISO 19606:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica.
23/30461942 DC BS ISO 19606. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica.
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.

Group Standards of the People's Republic of China, fuerza atómica

T/CSTM 00003-2019 Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM)
T/GDASE 0008-2020 Determinación del módulo de Young de una película de grafeno.

American Society for Testing and Materials (ASTM), fuerza atómica

ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, fuerza atómica

GB/T 33714-2017 Nanotecnología: método de prueba para determinar el tamaño de las nanopartículas: microscopía de fuerza atómica
GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, fuerza atómica

GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
GB/T 27760-2011 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, fuerza atómica

GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
GB/T 36969-2018 Nanotecnología: método para medir el espesor de la nanopelícula mediante microscopía de fuerza atómica.
GB/T 40128-2021 Análisis químico de superficie: microscopía de fuerza atómica: método de prueba para determinar el espesor de las nanohojas de disulfuro de molibdeno en capas bidimensionales

Professional Standard - Nuclear Industry, fuerza atómica

EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante

Professional Standard - Petroleum, fuerza atómica

SY/T 6249-1996 Operación y mantenimiento del magnetómetro de protones.

RU-GOST R, fuerza atómica

GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), fuerza atómica

JIS R 1683:2007 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
JIS R 1683:2014 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.

International Electrotechnical Commission (IEC), fuerza atómica

IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-2: Grafeno - Número de capas: microscopía de fuerza atómica, transmisión óptica, espectroscopia Raman

German Institute for Standardization, fuerza atómica

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)