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Electromigración
Electromigración, Total: 30 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Electromigración son: Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Geología. Meteorología. Hidrología, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, ingenieria electrica en general, Vocabularios, Componentes electrónicos en general., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Calidad del aire, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas..
IPC - Association Connecting Electronics Industries, Electromigración
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Electromigración
- JEDEC JESD61A.01-2007 Procedimiento de prueba de electromigración isotérmica
- JEDEC JESD61A-2007 Procedimiento de prueba de electromigración isotérmica
- JEDEC JESD61-1997 Procedimiento de prueba de electromigración isotérmica
- JEDEC JESD63-1998 Método estándar para calcular los parámetros del modelo de electromigración para densidad de corriente y temperatura
- JEDEC JEP154-2008 Directriz para caracterizar la electromigración por golpes de soldadura bajo estrés de temperatura y corriente constantes
- JEDEC JESD202-2006 Método para caracterizar la distribución del tiempo de falla de electromigración de interconexiones bajo estrés de temperatura y corriente constante
Danish Standards Foundation, Electromigración
- DS/EN 62415:2010
- DS/ISO 15900:2020 Determinación de la distribución del tamaño de partículas – Análisis de movilidad eléctrica diferencial para partículas de aerosol
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Electromigración
- EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
Association Francaise de Normalisation, Electromigración
ES-UNE, Electromigración
- UNE-EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores - Ensayo de electromigración en corriente constante (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)
German Institute for Standardization, Electromigración
- DIN EN 62415:2010-12 Dispositivos semiconductores - Prueba de electromigración de corriente constante (IEC 62415:2010); Versión alemana EN 62415:2010
- DIN EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores - Prueba de electromigración de corriente constante (IEC 62415:2010); Versión alemana EN 62415:2010
International Electrotechnical Commission (IEC), Electromigración
- IEC 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
British Standards Institution (BSI), Electromigración
- BS EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
- BS ISO 15900:2020 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Análisis de movilidad eléctrica diferencial para partículas de aerosol.
- 19/30370177 DC BS ISO 15900. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Análisis de movilidad eléctrica diferencial para partículas de aerosol.
Lithuanian Standards Office , Electromigración
- LST EN 62415-2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante (IEC 62415:2010)
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Electromigración
Professional Standard - Meteorology, Electromigración
- QX/T 72-2007 Determinación de la distribución del tamaño numérico de partículas submicrónicas mediante el método de movilidad eléctrica
RU-GOST R, Electromigración
Group Standards of the People's Republic of China, Electromigración
- T/GDASE 0010-2020 Determinación de la movilidad de los electrones en películas finas de grafeno.
Association of German Mechanical Engineers, Electromigración
- VDI 3867 Blatt 3-2012 Medición de partículas en el aire ambiente - Determinación de la concentración del número de partículas y de la distribución del tamaño del número de aerosoles - Espectrómetro de movilidad eléctrica
American Society for Testing and Materials (ASTM), Electromigración
- ASTM F1260M-96 Método de prueba estándar para estimar el tiempo medio hasta falla de electromigración y sigma de metalizaciones de circuitos integrados [métrico]
- ASTM F1260M-96(2003) Método de prueba estándar para estimar el tiempo medio de falla de electromigración y sigma de metalizaciones de circuitos integrados [métrico]