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pico de cristal

pico de cristal, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en pico de cristal son: Agricultura y silvicultura, Estandarización. Reglas generales, Equipo medico, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., ingeniería de energía solar, Vaso, Pesticidas y otros agroquímicos, Componentes electrónicos en general., Dispositivos semiconductores, Optoelectrónica. Equipo láser, Terminal de TI y otros equipos periféricos, químicos inorgánicos, Química analítica, Materiales semiconductores, pruebas de metales, Filtros electricos, ingeniería de energía nuclear, Protección del medio ambiente, Pruebas eléctricas y electrónicas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Dispositivos de visualización electrónica., Hornos industriales, Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Óptica y medidas ópticas., Documentación técnica del producto, Materiales magnéticos, Pilas y baterías galvánicas., Plástica, Químicos orgánicos, Minerales no metalíferos, Cerámica, Educación, Vocabularios, Circuitos integrados. Microelectrónica, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Sistemas de vehículos de carretera, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Cinematografía, Componentes para equipos eléctricos., Joyería, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Herramientas de corte, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Productos de la industria química., producción de metales, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Símbolos gráficos, Equipo de trabajo sin chip, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general..


Group Standards of the People's Republic of China, pico de cristal

American National Standards Institute （ANSI), pico de cristal

ES-UNE, pico de cristal

  • UNE-EN 120003:1992 BDS: FOTOTRANSISTORES, TRANSISTORES FOTOCARLINGTON, Matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)
  • UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
  • UNE-EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)
  • UNE-EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2019.)

HU-MSZT, pico de cristal

SE-SIS, pico de cristal

RO-ASRO, pico de cristal

Professional Standard - Medicine, pico de cristal

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), pico de cristal

Danish Standards Foundation, pico de cristal

Association Francaise de Normalisation, pico de cristal

  • NF B30-004:1974 VIDRIO.CRISTAL,CRISTAL VIDRIO,CRISTALINA.
  • NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • NF EN 120003:1992 Especificación de marco especial: fototransistores, transistores fotodarlington, redes de fototransistores
  • NF EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
  • NF S94-750-7*NF EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
  • NF EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
  • NF S94-750-10*NF EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
  • NF C96-611/A1:1972 Semiconductores Transistores de unión Hojas de normas particulares
  • NF S94-750-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: lentes intraoculares fáquicas.
  • NF S94-750-10/A1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: lentes intraoculares fáquicas - Enmienda 1
  • NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 9: medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, pico de cristal

  • GB 9558-2001 Cristalo-dimetoato
  • GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
  • GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
  • GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
  • GB/T 31958-2023 Vidrio de sustrato para pantalla de cristal líquido de transistor de película delgada de silicio amorfo
  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB/T 3352-1994 Cristal de cuarzo sintético
  • GB/T 3351~353-1982 cristal de cuarzo artificial
  • GB/T 8553-2023 Especificaciones generales para cajas de cristal.
  • GB/T 8553-1987 Soportes (Caja), cristal, especificaciones generales para
  • GB/T 8756-1988 Colección de metalografías sobre defectos del germanio cristalino.
  • GB/T 31958-2015 Vidrio de sustrato para dispositivo de visualización de cristal líquido con transistor de película delgada
  • GB 51136-2015 Especificaciones para el diseño de fábrica de pantalla de cristal líquido con transistor de película delgada
  • GB/T 6628-1996 Cristal de cuarzo sintético enmaderado.
  • GB/T 7895-1987 Cristal de cuarzo sintético de grado óptico.
  • GB/T 7895-2008 Cristal de cuarzo sintético de grado óptico.
  • GB/T 6430-1986 La regla de designación de tipo para soportes de cristal (cajas)
  • GB/T 26762-2011 Fructosa cristalina y fructosa-glucosa sólida.
  • GB 6430-1986 Nomenclatura del modelo de caja de cristal
  • GB/T 16863-1997 Método para probar el índice de refracción de cristales.
  • GB/T 12633-1990 Términos para las mediciones de las propiedades de los cristales piezoeléctricos.
  • GB 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo Especificación genérica para
  • GB/T 3353-1995
  • GB/T 22319.7-2015 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de caídas de actividad de unidades de cristal de cuarzo.

Professional Standard - Machinery, pico de cristal

  • JB/T 9495.1-1999 Cristales ópticos
  • JB/T 10789-2007 Hornos de crecimiento de cristales de alta presión. Hornos de crecimiento de cristales de alta presión de la serie TDR-GY mediante el método czoctn-alski encapsulado en líquido
  • JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
  • JB/T 8951.1-1999 Transistor Bipolar de Puerta Aislada
  • JB/T 11375-2013 Pantalla de proyección de cristal ultramicro

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, pico de cristal

European Standard for Electrical and Electronic Components, pico de cristal

  • EN 120003:1992 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores

German Institute for Standardization, pico de cristal

  • DIN EN 120003:1996 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
  • DIN EN 120003:1996-11 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
  • DIN EN ISO 11979-7:2018-08 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018); Versión alemana EN ISO 11979-7:2018
  • DIN 52341:1993 Pruebas de vidrio; Análisis químico de cristal de plomo y cristal.
  • DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO/DIS 11979-7:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 11979-7:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-03-03*Previsto como reemplazo...
  • DIN EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018)
  • DIN EN ISO 11979-10:2018-08 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018); Versión alemana EN ISO 11979-10:2018
  • DIN 4000-19:1988-12 Diseños tabulares de características de artículos para transistores y tiristores.
  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
  • DIN EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018)
  • DIN IEC 60679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
  • DIN EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 11979-10:2006-11
  • DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, pico de cristal

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, pico de cristal

Lithuanian Standards Office , pico de cristal

  • LST EN 120003-2001 Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • LST EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
  • LST EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)
  • LST EN 50513-2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares

British Standards Institution (BSI), pico de cristal

  • BS EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • BS EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Lentes intraoculares fáquicas
  • 23/30453001 DC BS EN ISO 11979-7. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares - Parte 7. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
  • BS EN ISO 11979-10:2018 Cambios rastreados. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
  • BS EN 120003:1986 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco - Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • BS EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
  • BS EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Unidades de cristal con termistores
  • BS EN 120003:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
  • BS EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
  • BS EN 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • BS EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
  • BS IEC 60747-7:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. transistores bipolares
  • BS IEC 60747-7:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. transistores bipolares
  • BS IEC 60747-7:2010+A1:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos - Transistores bipolares
  • BS IEC 60747-8:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Transistores de efecto de campo
  • BS IEC 60747-8:2010+A1:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos - Transistores de efecto de campo
  • BS PD ISO/TS 23151:2021 Nanotecnologías. Distribución del tamaño de partículas de nanocristales de celulosa. Distribución del tamaño de partículas para nanocristales de celulosa.
  • BS EN 60444-7:2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
  • BS EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo.

CZ-CSN, pico de cristal

Professional Standard - Light Industry, pico de cristal

Professional Standard - Building Materials, pico de cristal

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), pico de cristal

  • KS C 7021-1974(2001) REGLAS GENERALES PARA TRANSISTORES
  • KS C 7021-1985 REGLAS GENERALES PARA TRANSISTORES
  • KS C 6506-1983 Cristal de cuarzo sintético1
  • KS M 1401-2017(2022) Sulfito de sodio (cristal)
  • KS C 6506-1983(2008) Cristal de cuarzo sintético1
  • KS P ISO 11979-7:2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • KS C 6503-1999 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • KS C 6024-1995(2000) MÉTODOS DE MEDICIÓN PARA TRANSISTORES
  • KS C 8531-2005 Módulo de células solares cristalinas
  • KS C 6503-1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
  • KS C 6024-1985 MÉTODOS DE MEDICIÓN PARA TRANSISTORES
  • KS P ISO 11979-10:2019 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
  • KS C 6504-1987(2017) Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
  • KS C IEC 60679-2:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-2-2023 Oscilador de cristal de cuarzo, parte 2: una guía para usar un oscilador de cristal de cuarzo
  • KS C 6509-1991 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • KS C 6508-2013 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
  • KS C 8531-1995 Módulo de células solares cristalinas
  • KS C 6509-1991(2011) Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
  • KS C 6504-1987(2022) Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
  • KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
  • KS C IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.
  • KS C IEC 60747-7:2006 Dispositivos semiconductores －Dispositivos discretos －Parte 7: Transistores bipolares
  • KS C IEC 60747-7:2017 Dispositivos semiconductores －Dispositivos discretos －Parte 7: Transistores bipolares
  • KS C 6504-1987 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
  • KS C 6508-1990 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
  • KS B 3620-2012 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
  • KS C IEC 60444-9:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.
  • KS C IEC 60444-9-2016(2021) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.
  • KS C IEC 60747-8:2002 Dispositivos discretos - Parte 8: Transistores de efecto de campo
  • KS C IEC 60444-8-2016(2021) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.
  • KS C IEC 61747-2:2002 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 2: Módulos de visualización de cristal líquido－Especificación seccional

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, pico de cristal

轻工业部, pico de cristal

AENOR, pico de cristal

  • UNE-EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
  • UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014)
  • UNE-EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)
  • UNE-EN 50513:2011 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares

U.S. Military Regulations and Norms, pico de cristal

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, pico de cristal

  • DB23/T 3600-2023 Directrices para preparar el sistema estándar Carbon Peak Carbon Neutral

International Organization for Standardization (ISO), pico de cristal

  • ISO/DIS 11979-7 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • ISO/FDIS 11979-7:2011 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
  • ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
  • ISO 11979-1:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
  • ISO 11979-9:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
  • ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas; Enmienda 1
  • ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales; Enmienda 1

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., pico de cristal

  • IEEE 176-1949 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS
  • IEEE 180-1962 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS Y FERROELÉCTRICOS: DEFINICIONES DE TÉRMINOS DE CRISTAL FERROELÉCTRICO 1962 (62 IRE 14.S1)
  • IEEE 218-1956 MÉTODOS ESTÁNDAR DE PRUEBA DE TRANSISTORES

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, pico de cristal

Professional Standard - Education, pico de cristal

KR-KS, pico de cristal

  • KS P ISO 11979-7-2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
  • KS P ISO 11979-10-2019 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
  • KS C IEC 60679-2-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
  • KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, pico de cristal

  • GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
  • GB/T 37398-2019 Cristal de centelleo de fluoruro de bario
  • GB/T 8756-2018 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de germanio.
  • GB/T 39131-2020 Términos y definiciones de materiales de cristal sintético.
  • GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
  • GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
  • GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
  • GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados

YU-JUS, pico de cristal

  • JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
  • JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
  • JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
  • JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
  • JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15
  • JUS N.R1.373-1980 Yodos semiconductores. Clasificaciones y características esenciales. Diodos de señal de baja potencia
  • JUS N.R1.390-1979 Tnmmton bipolar. Clasificaciones y características esenciales: transistores de señal de potencia bw
  • JUS N.R1.450-1981 Transistores bipolares. Métodos de medición
  • JUS N.R1.352-1979 Símbolo de letra para dispositivos semiconductores. Tiristores.
  • JUS N.R9.074-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Esquema de soporte de cristal de dos hilos, tipo 19
  • JUS N.R9.072-1986 Vibradores piezoe/eléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema de soporte de cristal de dos wfre, tipo 16
  • JUS N.R9.077-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema portacristales de dos hilos, tipo 20
  • JUS N.R9.076-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Outllne más caliente de cristal de dos pines, tipo 08
  • JUS N.R9.075-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos clavijas, tipo 10
  • JUS N.R9.078-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de alambre de Turo, tipo 21
  • JUS N.R1.471-1985 Transistores bipolares. Métodos de medición de referencia.

AR-IRAM, pico de cristal

TR-TSE, pico de cristal

Professional Standard - Electron, pico de cristal

  • SJ/T 11199-1999 Piezas en bruto de cristal de cuarzo piezoeléctrico
  • SJ/Z 9155.2-1987 Oscilador de cristal de cuarzo Parte 2: Guía para el uso del oscilador de cristal de cuarzo
  • SJ/T 10639-1995 Términos unitarios de cristal de cuarzo
  • SJ 1852-1981 Términos para osciladores controlados por cristal de cuarzo
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