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microscopio electrónico de doble haz
microscopio electrónico de doble haz, Total: 71 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio electrónico de doble haz son: Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Vocabularios, Equipo óptico, Tratamiento superficial y revestimiento., Corrosión de metales, Química analítica, Dispositivos de visualización electrónica., Medidas lineales y angulares., Circuitos integrados. Microelectrónica, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones..
Association of German Mechanical Engineers, microscopio electrónico de doble haz
- DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio electrónico de doble haz
KR-KS, microscopio electrónico de doble haz
Association Francaise de Normalisation, microscopio electrónico de doble haz
- NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
International Organization for Standardization (ISO), microscopio electrónico de doble haz
- ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
- ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
- ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
- ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
- ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
- ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
- ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
- ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
- ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
- ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
- ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio electrónico de doble haz
- ASTM B651-83(2001) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM B651-83(1995) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con el microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM B651-83(2006) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM B651-83(2015) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM B651-83(2010) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM B651-83(2019) Método de prueba estándar para medir sitios de corrosión en superficies galvanizadas de níquel más cromo o cobre más níquel más cromo con microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM B588-88(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos transparentes u opacos mediante la técnica del microscopio de interferencia de doble haz
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de doble haz
- DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de doble haz
- GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
- GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
- GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión
- GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio electrónico de doble haz
- GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- GB/T 18735-2014 Análisis de microhaces. Guía general para la especificación de materiales de referencia finos nanométricos para microscopio electrónico de transmisión analítica (AEM/EDS)
- GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
- GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
- GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
British Standards Institution (BSI), microscopio electrónico de doble haz
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
- BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
- BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
- BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
- BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
- BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
- BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
- BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
- BS IEC 61156-1-4:2018 Cambios rastreados. Cables multinúcleo y simétricos par/quad para comunicaciones digitales. Evaluación del calentamiento de conductores en mazos de cables debido al despliegue de alimentación remota
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio electrónico de doble haz
- JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de doble haz
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
Defense Logistics Agency, microscopio electrónico de doble haz
Professional Standard - Nuclear Industry, microscopio electrónico de doble haz
- EJ/T 20150.23-2018 Postiluminación del conjunto combustible de radiación de varillas PWR, parte 23: Análisis SEM de tubos de revestimiento de combustible