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análisis de composición química por rayos x

análisis de composición química por rayos x, Total: 499 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en análisis de composición química por rayos x son: Productos de metales no ferrosos., Química analítica, Metales no ferrosos, Productos de la industria química., Materiales de construcción, Refractarios, Combustibles, Minerales no metalíferos, carbones, Calidad del suelo. Pedología, Óptica y medidas ópticas., Ferroaleaciones, Cerámica, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, pruebas de metales, Metales ferrosos, Vocabularios, químicos inorgánicos, ingeniería de energía nuclear, Residuos, Centrales eléctricas en general, Mediciones de radiación, Minerales metalíferos, Productos de hierro y acero., Protección de radiación, tubos electronicos, Medidas lineales y angulares., Protección contra el crimen, Pruebas no destructivas, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Equipo medico, Medicina de laboratorio, Calidad del aire, Educación, Vaso, Fibras textiles, Materiales semiconductores, Calidad del agua, Geología. Meteorología. Hidrología, Ingredientes de pintura, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Equipo óptico, Tratamiento superficial y revestimiento., Corrosión de metales.


Professional Standard - Non-ferrous Metal, análisis de composición química por rayos x

  • YS/T 869-2013 Análisis químico del método espectrométrico de fluorescencia de rayos X 4A-Zeolita.
  • YS/T 703-2014
  • YS/T 581.10-2006 Determinación del contenido químico y de las propiedades físicas del fluoruro de aluminio. Parte 10: Determinación del contenido de azufre mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • YS/T 575.23-2009 Método para el análisis químico de minerales de aluminio. Parte 23: Determinación del contenido de elementos Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • YS/T 581.16-2008 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico del fluoruro de aluminio industrial. Parte 16: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos.
  • YS/T 581.18-2012 Métodos de análisis químico y propiedades físicas del fluoruro de aluminio. Parte 18: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos utilizando tabletas de polvo prensado.
  • YS/T 273.14-2008 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la criolita sintética. Parte 14: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos.
  • YS/T 273.11-2006 Métodos de análisis químico y propiedades físicas de la criolita. Parte 11: Determinación del contenido de azufre mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • YS/T 273.15-2012 Métodos de análisis químico y propiedades físicas de la criolita. Parte 15: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos utilizando tabletas de polvo prensado.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), análisis de composición química por rayos x

  • JIS K 0181:2021 Análisis químico de superficie: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • JIS R 5204:2002 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
  • JIS R 5204:2019 Método de análisis químico del cemento mediante fluorescencia de rayos X.
  • JIS K 0145:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • JIS K 0152:2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • JIS H 1292:2018 Aleaciones de cobre - Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS M 8205:1983 Análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X para minerales de hierro.
  • JIS G 1256:1997 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS G 1256:1982 Método de análisis de rayos X de fluorescencia del acero.
  • JIS H 1292:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de cobre.
  • JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • JIS R 2216:2005 Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de productos refractarios.
  • JIS K 0148:2005 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • JIS H 1631:2008 Aleaciones de titanio: método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 Hierro y acero - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 1)
  • JIS G 1351:2006 Ferroaleaciones - Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • JIS H 1292:1997 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • JIS H 1287:2015 Níquel y aleaciones de níquel. Métodos para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • JIS G 1204:1978 Reglas generales para el análisis de rayos X fluorescentes de hierro y acero.
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 Hierro y acero. Método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X (Enmienda 2)
  • JIS H 1669:1990 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de aleaciones de circonio.
  • JIS G 1351:1987 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de ferroaleaciones.
  • JIS K 0160:2009 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
  • JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • JIS T 0306:2002 Análisis de estado de películas pasivas formadas sobre biomateriales metálicos mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
  • JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

International Organization for Standardization (ISO), análisis de composición química por rayos x

  • ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 21587-2:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo
  • ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
  • ISO/TR 18392:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Procedimientos para la determinación de fondos
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 10058-2:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo
  • ISO 29581-2:2010 Cemento - Métodos de prueba - Parte 2: Análisis químico mediante fluorescencia de rayos X
  • ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
  • ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
  • ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
  • ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 12677:2011 Análisis químico de productos refractarios mediante fluorescencia de rayos X (XRF): método de perlas fundidas
  • ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • ISO/TR 12389:2009 Métodos de prueba del cemento - Informe de un programa de prueba - Análisis químico por fluorescencia de rayos X
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • ISO 20565-2:2008 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo
  • ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • ISO 19318:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 19318:2021 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.
  • ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
  • ISO/TR 19319:2003
  • ISO 21079-2:2008 Análisis químico de refractarios que contienen alúmina, circonio y sílice. Refractarios que contienen entre un 5 % y un 45 % de ZrO (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Parte 2: Análisis químico húmedo.
  • ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica
  • ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
  • ISO 22863-4:2021 Fuegos artificiales. Métodos de prueba para la determinación de sustancias químicas específicas. Parte 4: Análisis de plomo y compuestos de plomo mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF).
  • ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
  • ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
  • ISO/TR 15969:2021 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad de pulverización catódica.
  • ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica

British Standards Institution (BSI), análisis de composición química por rayos x

  • BS ISO 20289:2018 Análisis químico de superficies. Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total del agua.
  • BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
  • BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS EN ISO 21587-2:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Análisis químico húmedo
  • BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 29581-2:2010 Cemento - Métodos de ensayo - Análisis químico mediante fluorescencia de rayos X
  • BS EN ISO 10058-2:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Análisis químico húmedo
  • BS EN ISO 10058-2:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 10058-2:2008)
  • BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies. Uso de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales.
  • BS ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • BS ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
  • PD ISO/TR 12389:2009 Métodos de prueba del cemento. Informe de un programa de prueba. Análisis químico por fluorescencia de rayos X.
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • BS EN ISO 20565-2:2009 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Análisis químico húmedo
  • BS EN ISO 20565-2:2008 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Parte 2: Análisis químico húmedo
  • BS ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
  • BS 1902-9.1:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de aluminosilicato mediante fluorescencia de rayos X
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS EN ISO 21079-2:2009 Análisis químico de refractarios que contienen alúmina, circonia y sílice. Refractarios que contienen entre un 5 y un 45 por ciento de ZrO2 (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Análisis químico húmedo
  • BS EN ISO 21079-2:2008 Análisis químico de refractarios que contienen alúmina, circonio y sílice. Refractarios que contienen entre un 5 y un 45 por ciento de ZrO2 (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 21079-2:2008)
  • BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • BS ISO 19318:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • BS ISO 22863-4:2021 Fuegos artificiales. Métodos de prueba para la determinación de sustancias químicas específicas. Análisis de plomo y compuestos de plomo mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • BS EN ISO 10058-1:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica.
  • BS EN ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica (ISO 10058-1:2008)
  • BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
  • 23/30446996 DC BS EN ISO 21068-4. Análisis químico de materias primas y productos refractarios que contienen carburo de silicio, nitruro de silicio, oxinitruro de silicio y sialon - Parte 4. Métodos XRD
  • BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
  • BS ISO 11505:2012 Análisis químico de superficies. Procedimientos generales para el perfilado cuantitativo de la profundidad de la composición mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
  • BS EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro: métodos XRD
  • BS 1902 Sec.9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios. Análisis químico por métodos instrumentales. Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X.
  • BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
  • BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
  • BS 1902 Sec.9.1:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios. Análisis químico por métodos instrumentales. Análisis de refractarios de aluminosilicato mediante fluorescencia de rayos X.
  • BS EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
  • 19/30401682 DC BS ISO 22863-4. Fuegos artificiales. Métodos de prueba para la determinación de sustancias químicas específicas. Parte 4. Análisis de plomo y compuestos de plomo mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF)
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
  • BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, análisis de composición química por rayos x

  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 29513-2013 Análisis químico de polvo y lodos que contienen hierro mediante XRF. Método de perlas fundidas fundidas
  • GB/T 21114-2007 Análisis espectroquímico de fluorescencia de rayos X de materiales refractarios: método de disco de vidrio fundido
  • GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
  • GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 19140-2003 Reglas tecnológicas para el análisis de fluorescencia de rayos X de cementos.
  • GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
  • GB/T 17416.2-1998 Método de análisis químico de minerales de circonio. Determinación del contenido de circonio y hafnio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • GB/T 13710-1992 Especificaciones detalladas en blanco de tubos radiológicos para análisis.
  • GB/T 14506.28-1993
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 6609.32-2009 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la alúmina. Parte 32: Determinación del contenido de alúmina mediante difracción de rayos X.
  • GB/T 14849.5-2014 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 5: Determinación del contenido de impurezas. Método de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
  • GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
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Professional Standard - Chemical Industry, análisis de composición química por rayos x

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German Institute for Standardization, análisis de composición química por rayos x

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  • DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
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  • DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
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  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 pigmentos - pigmentos de dióxido de titanio - métodos de análisis; establecer un gráfico de calibración utilizando el análisis de fluorescencia de rayos X
  • DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
  • DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
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  • DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
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  • DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
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  • DIN EN ISO 12677:2013 Análisis químico de productos refractarios mediante fluorescencia de rayos X (XRF) - Método de perlas fundidas (ISO 12677:2011); Versión alemana EN ISO 12677:2011
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Danish Standards Foundation, análisis de composición química por rayos x

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  • DS/EN ISO 10058-2:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo
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  • DS/EN ISO 12677:2011 Análisis químico de productos refractarios mediante fluorescencia de rayos X (XRF): método de perlas fundidas
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  • DS/EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica

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未注明发布机构, análisis de composición química por rayos x

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ES-UNE, análisis de composición química por rayos x

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  • UNE-EN ISO 20565-2:2008 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 20565-2:2008) (Ratificada por AENOR en febrero de 2009.)

Lithuanian Standards Office , análisis de composición química por rayos x

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  • LST EN ISO 20565-2:2009 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 2: Análisis químico húmedo (ISO 20565-2:2008)
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Professional Standard - Machinery, análisis de composición química por rayos x

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  • AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • AS ISO 24237:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • AS ISO 19318:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • AS ISO 19319:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia electrónica Augur y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vista por el analizador

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  • ASTM E1621-21 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E1621-05 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
  • ASTM E1085-95(2004) Método de prueba estándar para análisis espectrométrico de emisión de rayos X de aceros de baja aleación
  • ASTM E1085-95(2000) Método de prueba estándar para análisis espectrométrico de emisión de rayos X de aceros de baja aleación
  • ASTM E1085-95(2004)e1 Método de prueba estándar para análisis espectrométrico de emisión de rayos X de aceros de baja aleación
  • ASTM E572-94(2000) Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X de acero inoxidable
  • ASTM E572-02a(2006)e1 Método de prueba estándar para el análisis de aceros inoxidables y aleados mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • ASTM E572-02a(2006) Método de prueba estándar para el análisis de aceros inoxidables y aleados mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • ASTM E572-02a Método de prueba estándar para el análisis de aceros inoxidables y aleados mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • ASTM E1361-90(1999) Guía estándar para la corrección de efectos entre elementos en análisis espectrométricos de rayos X
  • ASTM E572-94(2000)e1 Método de prueba estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X de acero inoxidable
  • ASTM E1361-02(2021) Guía estándar para la corrección de efectos entre elementos en análisis espectrométricos de rayos X
  • ASTM D2332-13(2021) Práctica estándar para el análisis de depósitos formados por agua mediante fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • ASTM E322-96e1 Método de prueba estándar para análisis espectrométrico de emisión de rayos X de aceros de baja aleación y hierros fundidos
  • ASTM D7902-20 Terminología estándar para análisis radioquímicos
  • ASTM D7902-18 Terminología estándar para análisis radioquímicos
  • ASTM D7902-14 Terminología estándar para análisis radioquímicos
  • ASTM D7902-14e1 Terminología estándar para análisis radioquímicos
  • ASTM D7902-16 Terminología estándar para análisis radioquímicos
  • ASTM C1605-04(2014) Métodos de prueba estándar para el análisis químico de materiales cerámicos blancos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ASTM D5381-93(2003) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM D5381-93(1998) Guía estándar para espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) de pigmentos y extensores
  • ASTM C1605-04 Métodos de prueba estándar para el análisis químico de materiales cerámicos blancos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ASTM C1605-04(2009) Métodos de prueba estándar para el análisis químico de materiales cerámicos blancos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, análisis de composición química por rayos x

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Professional Standard - Commodity Inspection, análisis de composición química por rayos x

  • SN/T 3322.1-2012 Análisis químico de concentrado de limonita para importación y exportación. Parte 1: Determinación de componentes mayores y menores. Espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
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Professional Standard - Building Materials, análisis de composición química por rayos x

Professional Standard - Nuclear Industry, análisis de composición química por rayos x

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  • EJ/T 1068-1998 Análisis de fluorescencia de fuentes de plutonio-238 para rayos X
  • EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
  • EJ/T 805-1993 Fuentes de fotones de baja energía para análisis de fluorescencia de rayos X
  • EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil
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Group Standards of the People's Republic of China, análisis de composición química por rayos x

  • T/CACE 064-2022 Determinación de composiciones de escoria de gasificación de carbón: método espectrométrico de fluorescencia de rayos X

Professional Standard - Electricity, análisis de composición química por rayos x

  • DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

Professional Standard - Geology, análisis de composición química por rayos x

  • DZ/T 0279.1-2016 Métodos analíticos de muestras geoquímicas regionales Parte 1: Determinación de 24 componentes como óxido de aluminio y otros componentes mediante compresión de polvo: espectrometría de fluorescencia de rayos X
  • DZ/T 0370-2021 Reglamento técnico para el análisis in situ de fluorescencia de rayos X portátil
  • DZ/T 0279.10-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales - Parte 10: Determinación de la compresión del polvo de cuantificación de cloro y bromo - Espectrometría de fluorescencia de rayos X

American National Standards Institute （ANSI), análisis de composición química por rayos x

  • ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, análisis de composición química por rayos x

  • DB53/T 639.7-2014 Métodos para el análisis químico del hierro reducido directo - Parte 7: Determinación de múltiples elementos mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Professional Standard - Public Safety Standards, análisis de composición química por rayos x

  • GA/T 1655-2019 Ciencias Forenses Examen de composición elemental del suelo Espectroscopia de fluorescencia de rayos X
  • GA/T 1654-2019 Papel de ciencia forense Examen de composición elemental Espectroscopia de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GA/T 1422-2017 Método de difracción de rayos X para examinar la composición de fuegos y explosivos comunes en ciencias forenses
  • GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, análisis de composición química por rayos x

  • CNS 11942.23-2000 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • CNS 11942-23-2000 Método para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de cobre y aleaciones de cobre.
  • CNS 4986-1979 Métodos de análisis químico para detergentes sintéticos.

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, análisis de composición química por rayos x

  • GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

International Electrotechnical Commission (IEC), análisis de composición química por rayos x

  • IEC 62495:2011 Instrumentación nuclear: equipo portátil de análisis de fluorescencia de rayos X que utiliza un tubo de rayos X en miniatura.

Professional Standard - Light Industry, análisis de composición química por rayos x

  • QB/T 1272-1991 Preparación de muestras para análisis químico de productos de piel terminados y reglas generales para análisis químico.
  • QB/T 1967.3-2017 Método de prueba para el análisis de la composición química del pigmento cerámico blanco.
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Professional Standard - Petroleum, análisis de composición química por rayos x

  • SY/T 6240-1996 Método de análisis químico de la barita.
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Professional Standard - Education, análisis de composición química por rayos x

  • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
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