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Análisis de elementos de superficie de silicio.

Análisis de elementos de superficie de silicio., Total: 105 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de elementos de superficie de silicio. son: Química analítica, Materiales de construcción, Metales ferrosos, Ingeniería vial, Fluidos aislantes, pruebas de metales, Minerales no metalíferos, Circuitos integrados. Microelectrónica, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Metales no ferrosos, Vaso, Productos de la industria química., Símbolos gráficos, Calidad del agua.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de elementos de superficie de silicio.

KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17560-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14706:2003 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
KS M ISO 8215:2007 Agentes tensioactivos－Detergentes en polvo－Determinación del contenido total de sílice－Método gravimétrico
KS D ISO 14237-2003(2018) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio
KS D ISO 17560:2003 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas secundaria－Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

KR-KS, Análisis de elementos de superficie de silicio.

KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de elementos de superficie de silicio.

GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
GB/T 39527-2020 Determinación de calcio, aluminio y silicio en materiales de superficie sólida. Método de análisis químico.
GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 39145-2020 Método de prueba para determinar el contenido de elementos metálicos superficiales en obleas de silicio: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.

British Standards Institution (BSI), Análisis de elementos de superficie de silicio.

BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
BS 6200-4:1989 Muestreo y análisis de hierro, acero y otros metales ferrosos - Recomendaciones para el orden de listado de elementos en el análisis químico del acero
BS ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de elementos de superficie de silicio.

ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
ISO/TR 6306:1989 Análisis químico del acero; orden de los elementos del listado
ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
ISO 17560:2002

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de elementos de superficie de silicio.

GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio.
GB/T 14506.30-2010 Métodos de análisis químico de rocas silicatadas.Parte 30:Determinación de 44 elementos.
GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
GB/T 14506.29-2010 Métodos para el análisis químico de rocas de silicato. Parte 29: Determinación de 22 elementos, incluidos los elementos de tierras raras.
GB/T 14506.28-1993
GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.
GB/T 14849.5-2014 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 5: Determinación del contenido de impurezas. Método de fluorescencia de rayos X.
GB/T 14849.4-2008 Métodos para el análisis químico del silicio metálico. Parte 4: Determinación del contenido de elementos. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.

Association Francaise de Normalisation, Análisis de elementos de superficie de silicio.

NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF EN ISO 23157:2022 Determinación del contenido de grupos silanol en la superficie de sílice pirógena - Método mediante análisis cromatográfico de gases de gases de reacción
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF EN 16424:2014 Caracterización de residuos: método de detección para la determinación de la composición elemental mediante analizadores portátiles de fluorescencia de rayos X
NF X21-066*NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF X21-051*NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

RO-ASRO, Análisis de elementos de superficie de silicio.

STAS 9163/16-1973 PRODUCTOS DE LA MINERÍA DE SÍLICE-ALÚMINA Análisis espectral de elementos Fe, Ti, Cu, Mg, Mn, Cu

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis de elementos de superficie de silicio.

JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0160:2009 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0148:2005 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
JIS K 0164:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis de elementos de superficie de silicio.

ASTM E3008/E3008M-16(2023) Clasificación estándar para elementos de superficie de transporte—UNIFORMAT II
ASTM D5738-95(2006) Guía estándar para mostrar los resultados de análisis químicos de aguas subterráneas para iones principales y oligoelementos Diagramas para análisis individuales
ASTM D5738-95(2000) Guía estándar para mostrar los resultados de los análisis químicos de agua subterránea para iones principales y oligoelementos: diagramas para análisis individuales
ASTM D5877-95(2000) Guía estándar para mostrar resultados de análisis químicos de agua subterránea para iones principales y oligoelementos: diagramas basados en cálculos analíticos de datos

未注明发布机构, Análisis de elementos de superficie de silicio.

BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.

PL-PKN, Análisis de elementos de superficie de silicio.

PN H04208-03-1989 Analiza chemiczna ?elazostopów ?elazomolibden Oznaczanie zawarto?ci krzemu

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis de elementos de superficie de silicio.

GB/T 33236-2016 Silicio policristalino. Determinación de oligoelementos. Método de espectrometría de masas por descarga luminiscente.

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis de elementos de superficie de silicio.

AS ISO 17974:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
AS ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

German Institute for Standardization, Análisis de elementos de superficie de silicio.

DIN 51456:2013-10 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores: análisis de superficies de obleas de silicio mediante determinación de elementos múltiples en soluciones de análisis acuosas mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)
DIN 51456:2013 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores: análisis de superficies de obleas de silicio mediante determinación de elementos múltiples en soluciones de análisis acuosas mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS)

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis de elementos de superficie de silicio.

T/CASAS 032-2023 Método de prueba para determinar el contenido de elementos metálicos en la superficie de una oblea de carburo de silicio: espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
T/CSTM 00012E-2021 Hierro y acero. Caracterización de la distribución del contenido y estado de múltiples elementos. Método de análisis de distribución estadística de posición original de espectroscopía de ruptura inducida por láser.
T/CSTM 00012-2017 Método de análisis de distribución estadística in situ por espectroscopía de ruptura inducida por láser para la caracterización de la composición de múltiples elementos y la distribución del estado del hierro y el acero

International Electrotechnical Commission (IEC), Análisis de elementos de superficie de silicio.

IEC 61636-99:2016*IEEE Std 1636.99 Interfaz de software para la recopilación y análisis de información de mantenimiento (SIMICA): elementos de información comunes
IEC 61636-99:2016 Interfaz de software para la recopilación y análisis de información de mantenimiento (SIMICA): elementos de información comunes
IEC 61636:2021*IEEE Std 1636 Interfaz de software para la recopilación y análisis de información de mantenimiento (SIMICA): elementos de información comunes

CZ-CSN, Análisis de elementos de superficie de silicio.

CSN 72 0114 Cast.2 Z1-1997 ¿Základní postup rozbor? silikát?. Stanovení oxidu hore?natého komplexometrickou metodou po odstranění ru?iv?ch prvk?
CSN 70 0527 Cast.1-1986 Métodos de prueba de vidrio. Vidrio de silicato. Método para el análisis cuantitativo de los extractos superficiales de productos de vidrio. La determinación del óxido de sílice.
CSN 72 0113 Cast.2 Z1-1997 ¿Základní postup rozbor? silikát?. Stanovení oxidu vápenatého komplexometrickou metodou po odstranění ru?iv?ch prvk?
CSN 70 0527 Cast.2-1986 Métodos de prueba de vidrio. Vidrio de silicato. Método para el análisis cuantitativo de los extractos de la superficie de productos de vidrio. Determinación de óxido bórico.
CSN 70 0527 Cast.5-1986 Métodos de prueba de vidrio. Vidrio de silicato. Método para el análisis cuantitativo de los extractos de la superficie de productos de vidrio. Determinación de óxido de plomo.
CSN 70 0527 Cast.4-1986 Métodos de prueba de vidrio. Vidrio de silicato. Método para el análisis cuantitativo de los extractos de la superficie de productos de vidrio. Determinación de óxido de hierro.
CSN 70 0527 Cast.7-1986 Métodos de prueba de vidrio. Vidrio de silicato. Método para el análisis cuantitativo de los extractos de la superficie de productos de vidrio. Determinación de óxido arsenioso.

American Gear Manufacturers Association, Análisis de elementos de superficie de silicio.

AGMA 91FTM16-1991 Análisis de contacto de engranajes utilizando un método combinado de elementos finitos e integral de superficie