ZH

RU

EN

dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X, Total: 47 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X son: Medidas lineales y angulares., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, pruebas de metales, Pruebas no destructivas, Astronomía. Geodesia. Geografía, ingeniería de energía nuclear, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Productos de la industria química., producción de metales, Minerales metalíferos, Tratamiento superficial y revestimiento..


RU-GOST R, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
  • GOST 25645.118-1984 Rayos X cósmicos de fuentes discretas. Espectros de energía y coordenadas angulares.
  • GOST 25645.117-1984 Radiación gamma y X difusa extragaláctica. Características de las distribuciones angulares y de energía.
  • GOST 25645.131-1986 Gamma difusa galáctica y rayos X. Características de las distribuciones angulares y de energía.

British Standards Institution (BSI), dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • BS ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • DD ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • BS ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • BS ISO 23484:2023 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • 22/30441138 DC BS ISO 23484. Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • BS ISO 20804:2022 Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • 21/30372607 DC BS ISO 20804. Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • BS ISO 24688:2022 Determinación del período de modulación de recubrimientos nanomulticapa mediante métodos de rayos X de ángulo bajo.
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
  • PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión

International Organization for Standardization (ISO), dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • ISO/FDIS 23484 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • ISO 23484:2023 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • ISO 20804:2022 Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
  • ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
  • ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica

Group Standards of the People's Republic of China, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • T/CSCM 05-2020 Medición de microhuecos en fibras Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • GB/T 13221-1991 Polvo ultrafino--Determinación de la distribución del tamaño de partículas--Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
  • GB/T 13221-2004 Polvo nanométrico. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño.
  • GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro

Professional Standard - Nuclear Industry, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil

American Society for Testing and Materials (ASTM), dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • ASTM E1172-87(2003) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • ASTM E1172-87(2001) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • ASTM E1172-87(1996) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
  • ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
  • ASTM E1172-87(2011) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

Standard Association of Australia (SAA), dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • AS 2563:1996 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda: determinación de la precisión
  • AS 2563:2019 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva

Professional Standard - Agriculture, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

工业和信息化部/国家能源局, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
  • JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento
  • JB/T 12962.1-2016 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 1: Técnicas generales

Association Francaise de Normalisation, dispersómetro de ángulo pequeño de rayos X

  • NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica




©2007-2023 Reservados todos los derechos.