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instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x, Total: 450 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x son: Óptica y medidas ópticas., Protección de radiación, Pruebas no destructivas, Mediciones de radiación, pruebas de metales, Química analítica, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, ingeniería de energía nuclear, Vocabularios, Equipo medico, Alambres y cables eléctricos., Productos de la industria química., producción de metales, Educación, Metales no ferrosos, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Refractarios, Minerales no metalíferos, Plástica, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., muelles, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Minerales metalíferos, Componentes electrónicos en general., Astronomía. Geodesia. Geografía, Materiales para el refuerzo de composites., Calidad del aire, químicos inorgánicos, Materiales de construcción, Metrología y medición en general., Centrales eléctricas en general, Aplicaciones de la tecnología de la información., Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales semiconductores, Productos petrolíferos en general, Protección contra el crimen, Combustibles, Calidad del agua, Productos de caucho y plástico., Ingredientes de pintura, Componentes de tuberías y tuberías., Cerámica.

Professional Standard - Machinery, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 11145-2011 espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
JB/T 9394-1999 Especificaciones para los estresómetros de rayos X.
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.
JB/T 9394-2011 Instrumentos de ensayo no destructivos. Especificaciones de los estresómetros de rayos X.
JB/T 11234-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Aparatos industriales de rayos X blandos.
JB/T 12456-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Requisitos técnicos del detector de rayos X para detección de placas de circuito.
JB/T 8426-1996 Revestimiento metálico. Método de prueba de difracción de rayos X para recubrimientos de aleación de níquel-fósforo
JB/T 8387-2010 Instrumentos de prueba no destructivos. Parámetro principal para el tubo de rayos X de detección industrial.
JB/T 11608-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Aparatos de rayos X industriales para pruebas radiográficas.
JB/T 6215-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. La serie de mesa típica para tubos de rayos X industriales.
JB/T 12457-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba del detector de rayos X para la detección de placas de circuito.
JB/T 11607-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Sistema industrial de inspección de neumáticos por rayos X.
JB/T 7808-2010 Instrumentos de pruebas no destructivas Principales series de parámetros para equipos industriales de rayos X.
JB/T 5453-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Sistema de imágenes de intensificador de imágenes de rayos X industriales.
JB/T 11278-2012 Instrumentos de prueba no destructivos. La especificación general para equipos de rayos X industriales.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 480-2007 Medidor de espesor de rayos X
JJG 480-1987 Reglamento de verificación del medidor de espesor por rayos X
JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
JJG 1050-2009 Regulación de verificación de la densitometría de rayos X 、 gamma para la densidad mineral ósea
JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/Z 41286-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: rastreadores de tuberías de rayos X
GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro
GB/T 26595-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación para tubo de rayos X panorámico.
GB/T 13221-1991 Polvo ultrafino--Determinación de la distribución del tamaño de partículas--Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GB/T 13221-2004 Polvo nanométrico. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño.
GB/Z 41476.3-2022 Instrumentos de prueba no destructivos. Reglas de protección radiológica para la aplicación técnica de equipos de rayos X hasta 1 MV. Parte 3: Fórmulas y diagramas para el cálculo de la protección radiológica para
GB/T 26838-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos radiográficos de rayos X industriales portátiles.
GB/Z 41399-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: sistema industrial de imágenes de rayos X digitales
GB/T 23413-2009 Determinación del tamaño de los cristalitos y microdeformación de nanomateriales. Método de ampliación de la línea de difracción de rayos X.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 26836-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación para tubos de rayos X de metal y cerámica.
GB/T 26594-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Métodos de prueba de propiedades del tubo de rayos X industrial.
GB/T 26830-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos de rayos X de potencial constante de alta frecuencia.
GB/T 26833-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificaciones generales para tubos de rayos X para detección industrial.
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
GB/T 30793-2014 Medición de la relación de anatasa a rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
GB/T 26592-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Métodos de prueba de propiedades de aparatos de rayos X industriales.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 26593-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba de propiedades para el rendimiento de equipos industriales de tomografía computarizada (CT) de rayos X.
GB/T 26835-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Especificación general para equipos industriales de tomografía computarizada (CT) de rayos X.
GB/T 26837-2011 Instrumentos de prueba no destructivos. Equipos radiográficos de rayos X industriales de tipo estacionario y móvil.
GB/T 24576-2009 Método de prueba para medir la fracción de Al en sustratos de AlGaAs mediante difracción de rayos X de alta resolución

RU-GOST R, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

GOST 22091.4-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición del voltaje del tubo de rayos X.
GOST 22091.5-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la corriente del tubo de rayos X.
GOST 22091.3-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir el campo de radiación y el ángulo del haz de radiación X.
GOST 22091.7-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir la uniformidad de la distribución de la densidad de energía de los rayos X sobre la cobertura de rayos X.
GOST 20337-1974 Dispositivos de rayos X. Términos y definiciones
GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
GOST 22091.10-1984 Dispositivos de rayos X. El método para medir el equivalente AL(CU) de la envoltura del dispositivo de rayos X.
GOST 22091.14-1986 Dispositivos de rayos X. El método para medir la densidad del flujo de energía (densidad de flujo de fotones) de la radiación X.
GOST R IEC 61953-2001 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas
GOST 22091.6-1984 Dispositivos de rayos X. Métodos para medir la potencia de la dosis de exposición a la radiación X y la dosis de exposición a la radiación X por pulso
GOST 22091.11-1980 Dispositivos de rayos X. El método de medición del tiempo de disponibilidad del dispositivo para el funcionamiento.
GOST 29025-1991 Pruebas no destructivas. Detectores de defectos de televisión por rayos X con transductores ópticos electrónicos de rayos X. Detectores de defectos radiográficos eléctricos. Requisitos técnicos generales
GOST 25645.118-1984 Rayos X cósmicos de fuentes discretas. Espectros de energía y coordenadas angulares.
GOST 22091.0-1984 Dispositivos de rayos X. Requisitos generales para la medición de parámetros.
GOST 22091.13-1984
GOST 22091.15-1986
GOST 22091.1-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje del calentador.
GOST 22091.9-1986 Dispositivos de rayos X. Los métodos para medir el tamaño efectivo del punto de enfoque.
GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GOST R 53203-2008 Productos derivados del petróleo. Determinación de azufre mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda
GOST 25645.117-1984 Radiación gamma y X difusa extragaláctica. Características de las distribuciones angulares y de energía.
GOST 25645.131-1986 Gamma difusa galáctica y rayos X. Características de las distribuciones angulares y de energía.
GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.

PT-IPQ, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Agriculture, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

77药典四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X
57药典四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
2355药典二部-2010 Apéndice IX Método de difracción de polvo de rayos FX
JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
784兽药典一部-2015 Apéndice Contenido 0400 Espectroscopia 0451 Difracción de rayos X
SN/T 5579-2023 Determinación del grado de grafitización de materiales de carbono. Método de difracción de rayos X.
SN/T 5499-2023 Determinación del contenido de talco en productos minerales Método de ajuste de espectro completo por difracción de rayos X
SN/T 3797-2014 Método de detección de fibras de circonio en materiales refractarios de construcción Método de difracción de rayos X
SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

JIS Z 4328:1984 Medidores de radiación para rayos X y gamma
JIS Z 4606:2007 Aparatos de rayos X industriales para pruebas radiográficas.
JIS C 3407:1987 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.
JIS C 3407:2003 Cables de alta tensión para aparatos de rayos X.
JIS Z 4324:1997 Monitores de área para rayos X y gamma
JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS Z 4910:1983 Rejillas antidispersión
JIS Z 4816:1975 Pinturas reductoras de rayos X de retrodispersión.
JIS Z 4818:1984 Materiales reductores para la retrodispersión de rayos X.
JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS Z 4615:2007 Medición del tamaño efectivo del punto focal para aparatos de rayos X industriales.
JIS Z 4615:1993 Medición del tamaño efectivo del punto focal para aparatos de rayos X industriales.

工业和信息化部, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.
HG/T 5705-2020 Determinación del contenido de fase de dióxido de titanio en catalizadores de hidrogenación mediante el método de difracción de rayos X.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS A 4816-1980(1995) PINTURAS REDUCTORAS DE RAYOS X DE DISPERSIÓN TRASERA
KS A 4816-1985 PINTURAS REDUCTORAS DE RAYOS X DE DISPERSIÓN TRASERA
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS A 4816-2000 PINTURAS REDUCTORAS DE RAYOS X DE DISPERSIÓN TRASERA
KS A 4729-1997 Rejillas antidispersión
KS A 4902-1979 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS A 4902-1987 Gráficos de prueba de resolución para aparatos de rayos X.
KS C IEC 60627:2003 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X－Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general
KS A 4901-2002 Características de las rejillas antidispersión utilizadas en equipos de rayos X
KS A 4610-2006 Medidores portátiles de dosis equivalente ambiental de fotones para protección radiológica
KS A IEC 61137-2003(2013) Instrumentación de protección radiológica－Conjunto de monitoreo de contaminación de superficies del personal instalado－Emisores X y gamma de baja energía
KS A 4901-2002(2012) REJILLAS DE RAYOS X
KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS C IEC 60627:2019 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general.
KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
KS C IEC 60601-2-8:2012 Equipos eléctricos médicos－Parte 2-8: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos terapéuticos de rayos X que funcionan en el rango de 10 kV a 1 MV
KS C IEC 60601-2-8:2017 Equipos eléctricos médicos. Parte 2-8: Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos terapéuticos de rayos X que funcionan en el rango de 10 kV a 1 MV.
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 3497-2002(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Métodos espectrométricos de rayos X
KS A ISO 14146:2007 Protección radiológica-Criterios y límites de rendimiento para la evaluación periódica de procesadores de dosímetros personales para radiación X y gamma
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS C IEC 61017-2:2005 Instrumentación de protección radiológica－Equipos portátiles, transportables o instalados para medir la radiación X o gamma para el monitoreo ambiental－Parte 2: Integración de conjuntos

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Association Francaise de Normalisation, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-282:2019 Ensayos no destructivos - Cuantificación de fases mediante difracción de rayos X
NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF EN 60627:2015 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X - Características de las rejillas antidispersión para uso general y mamografía
NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
NF A09-185*NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X.
NF C74-121:2002 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X - Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-285:1999 Ensayos no destructivos - Métodos de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales sólidos - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF C74-121*NF EN 60627:2015 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X - Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general
NF T31-207:1995 Pigmentos y diluyentes. Dióxido de titanio. Relación de anatasa a rutilo por difracción de rayos X.
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales

American National Standards Institute （ANSI), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ANSI N42.26-1995 Instrumentación de protección radiológica - Equipos de monitoreo - Dispositivos personales de advertencia para radiaciones X y Gamma

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
GB/T 39520-2020 Método de prueba para determinar la tensión residual del resorte mediante difracción de rayos X.
GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland
GB/T 37929-2019 Instrumentos de prueba no destructivos: métodos de prueba para la vida útil de los tubos de rayos X.
GB/T 39860-2021 Identificación rápida del polvo mineral residual de la superficie en productos de látex: espectrometría de difracción de rayos X
GB/T 37930-2019 Instrumentos de prueba no destructivos: especificaciones técnicas del sistema de imágenes de rayos X en tiempo real para ruedas de automóviles.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos

Indonesia Standards, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

SNI 18-6938-2002 Especificación del topógrafo portátil de radiación de rayos X o rayos Y

Professional Standard - Nuclear Industry, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

EJ/T 1100-1999 Aparato de perforación para análisis de fluorescencia de rayos X.
EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.
EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil
EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil

British Standards Institution (BSI), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
BS ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
DD ISO/TS 13762:2001 Análisis del tamaño de partículas. Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
BS EN 61953:1998 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas
BS DD ISO/TS 13762:2002 Análisis del tamaño de partículas: método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
BS ISO 22262-3:2016 Calidad del aire. Grandes materiales. Determinación cuantitativa de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
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SE-SIS, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

SIS SS IEC 627:1986 Equipos de rayos X - Características de las rejillas antidispersión utilizadas en los equipos de rayos X
SIS SS IEC 580:1986 Equipos de rayos X - Medidor de producto de exposición de área
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SIS SS IEC 656:1981

American Society for Testing and Materials (ASTM), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
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ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E1172-87(2001) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM F3094-14 Método de prueba estándar para determinar la protección proporcionada por prendas de protección contra rayos X utilizadas en fluoroscopia de rayos X médica contra fuentes de rayos X dispersos
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ASTM E1172-87(1996) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM E1931-16 Guía estándar para la tomografía de dispersión Compton de rayos X no computarizada
ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
ASTM E1621-05 Guía estándar para el análisis espectrométrico de emisión de rayos X
ASTM E1172-87(2011) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
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ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
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ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
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ASTM F2024-10(2016) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
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Universal Oil Products Company (UOP), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

VN-TCVN, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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Professional Standard - Education, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
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T/CSTM 00166.2-2020 Caracterización de materiales de grafeno Parte 2 Difracción de rayos X
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T/CSCM 05-2020 Medición de microhuecos en fibras Método de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
T/CASAS 014-2021 Método de medición para la flexión del plano basal de un sustrato de SiC. Difractometría de rayos X de alta resolución.
T/YXNX 004-2021 Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X

机械电子工业部, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

JB/T 5982-1991 Condiciones técnicas del instrumento direccional de rayos X.

International Organization for Standardization (ISO), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

ISO 17867:2015 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño
ISO 17867:2020 Análisis del tamaño de partículas: dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
ISO/FDIS 23484 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
ISO 23484:2023 Determinación de la concentración de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 22262-3:2016 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: Determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
ISO 23071:2021 Productos refractarios. Determinación de especies reducidas en refractarios que contienen carbono mediante XRD.
ISO/CD 6868:2023 Aire en el lugar de trabajo: determinación cuantitativa de cuarzo y cristobalita en materiales a granel mediante métodos de difracción de rayos X en polvo
ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

JJF 1613-2017 Especificación de calibración para instrumentos de medición de espesor de película delgada mediante reflectividad de rayos X de incidencia rasante
JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
JJF 1952-2021 Especificación de calibración para analizadores de espectrometría de fluorescencia de rayos X de azufre
JJF 1275-2011 Especificación de calibración para equipos de inspección de seguridad por rayos X
JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
JJF 1306-2011 Especificación de calibración para instrumentos de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X
JJF 1473-2014 Especificación de calibración para medidores de corriente no invasivos de rayos X de diagnóstico médico
JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

Society of Automotive Engineers (SAE), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

SAE HS-784-2003 Medición de tensión residual SAE mediante difracción de rayos X, edición de 2003
SAE J784-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

SAE - SAE International, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

SAE J784A-1971 Medición de tensión residual mediante difracción de rayos X

国家质量监督检验检疫总局, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

SN/T 4760-2017 Método de difracción de rayos X para la identificación de concentrados de zinc importados

German Institute for Standardization, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
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DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
DIN EN 60627:2006 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general (IEC 60627:2001); Versión alemana EN 60627:2001
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DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
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DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN 60627:2016-08 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general (IEC 60627:2013); Versión alemana EN 60627:2015
DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo
DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
DIN EN 60627:2016 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general (IEC 60627:2013); Versión alemana EN 60627:2015
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DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
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DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN IEC 62709:2015 Instrumentación de protección radiológica. Control de seguridad de personas. Medición del rendimiento de imágenes de los sistemas de rayos X (IEC 62709:2014).
DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009

European Committee for Standardization (CEN), instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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Danish Standards Foundation, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
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DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
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DS/EN 60627/Corr.:2003
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Lithuanian Standards Office , instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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LST EN 15305-2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
LST EN 15305-2008/AC-2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
LST EN 60627+AC-2003 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general (IEC 60627:2001)
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Professional Standard - Customs, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

AENOR, instrumento de dispersión de rayos x difractómetro de rayos x

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