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チップテスト

チップテストは全部で 11 項標準に関連している。

チップテスト 国際標準分類において、これらの分類:集積回路、マイクロエレクトロニクス、 半導体ディスクリートデバイス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 文字セットとメッセージエンコーディング、 塗料とワニス。


Group Standards of the People's Republic of China, チップテスト

  • T/CIE 126-2021 磁気ランダムアクセスメモリチップの試験方法
  • T/CASAS 030-2023 GaNミリ波フロントエンドチップの試験方法
  • T/CESA 1119-2020 人工知能チップ ディープラーニングチップ クラウド側のテスト指標とテスト方法
  • T/CESA 1121-2020 人工知能チップ ディープラーニングチップ デバイス側のテスト指標とテスト方法
  • T/CESA 1120-2020 人工知能チップディープラーニングチップエッジサイドのテスト指標とテスト方法

Professional Standard - Electron, チップテスト

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, チップテスト

  • DB44/T 1905-2016 超短波無線周波数識別 (RFID) チップのテスト方法

(U.S.) Ford Automotive Standards, チップテスト

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), チップテスト

  • KS M ISO 21227-2:2012 塗料およびワニス - 塗装面の欠陥を写真で評価する方法 - 第 2 部: 各種衝撃石チップの評価手順

工业和信息化部, チップテスト

  • YD/T 3944-2021 人工知能チップベンチマークテストの評価方法




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