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単結晶X線分析

単結晶X線分析は全部で 500 項標準に関連している。

単結晶X線分析 国際標準分類において、これらの分類：教育する、 金属材料試験、 無機化学、 分析化学、 物理学、化学、 半導体材料、 粒度分析、スクリーニング、 ブラックメタル、 セラミックス、 非鉄金属、 語彙、 光学および光学測定、 耐火物、 原子力工学、 建材、 非破壊検査、 空気の質、 放射線測定、 発電所総合、 塗料成分、 鉄鋼製品、 化学製品、 放射線防護、 電子管、 金属鉱石、 労働安全、労働衛生、 合金鉄、 非鉄金属製品、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 光学機器、 非金属鉱物、 医療機器、 検査医学、 水質、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 石油製品総合、 石炭、 消防、 燃料、 写真撮影のスキル、 長さと角度の測定、 ゴムおよびプラスチック産業の生産プロセス、 無駄、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 石油、石油製品、天然ガスの貯蔵および輸送装置、 表面処理・メッキ、 金属腐食、 ガラス。


Professional Standard - Education, 単結晶X線分析

  • JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
  • JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 単結晶X線分析

  • GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法
  • GB/T 30904-2014 無機化学製品の結晶構造解析のためのX線回折法
  • GB/T 32188-2015 窒化ガリウム単結晶基板のＸ線双結晶ロッキングカーブの半値幅の試験方法
  • GB/T 19140-2003 セメントの蛍光X線分析の一般原則
  • GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
  • GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析
  • GB/T 13710-1992 分析用X線管ブランク詳細仕様
  • GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
  • GB/T 16597-1996 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/Z 42520-2023 鉄鉱石蛍光X線分析実験室操作ガイド
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 29513-2013 キャストガラス板法を用いた鉄含有ダストスラッジの蛍光X線分光分析
  • GB/T 21114-2007 耐火物の蛍光X線分光分析 - キャストガラス板法
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
  • GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 17416.2-1998 ジルコニウム鉱石の化学分析法、蛍光X線分析によるジルコニウム含有量とハフニウム含有量の測定。
  • GB/T 43610-2023 マイクロビーム分析と電子顕微鏡を使用して線状結晶の見かけの成長方向を決定する透過型電子顕微鏡法
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
  • GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
  • GB/T 14849.5-2010 工業用シリコンの化学分析方法 パート 5: 元素含有量の測定 蛍光 X 線分析
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
  • GB/T 14506.28-1993 ケイ酸塩岩の化学分析法 蛍光X線分析による主要元素と微量元素の測定

PT-IPQ, 単結晶X線分析

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 単結晶X線分析

  • JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様
  • JJF 1133-2005 蛍光X線分析装置の金含有量分析装置の校正仕様

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 単結晶X線分析

Professional Standard - Aviation, 単結晶X線分析

  • HB 6742-1993 X線裏面照射ラウエ写真による単結晶ブレードの結晶方位の決定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 単結晶X線分析

  • GB/T 39123-2020 X線およびガンマ線検出器に使用される単結晶テルル化カドミウム亜鉛材料の仕様
  • GB/T 36923-2018 真珠粉の識別方法 X線回折分析
  • GB/T 40407-2021 ポルトランドセメントクリンカーの鉱物相のX線回折分析法
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
  • GB/T 16597-2019 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 21114-2019 耐火物の蛍光X線分光分析のための鋳造ガラス板法
  • GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測定
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深さ方向プロファイリング 単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法

Group Standards of the People's Republic of China, 単結晶X線分析

  • T/IAWBS 017-2022 ダイヤモンド単結晶の半値幅の試験方法 X線二重結晶ロッキングカーブ
  • T/IAWBS 015-2021 酸化ガリウム単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
  • T/IAWBS 016-2022 炭化珪素単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
  • T/CSTM 01102-2023-2023 マイクロビーム蛍光X線分析法を用いた溶接継手部品のその場統計分布解析
  • T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法
  • T/IMPCA 0001-2021 化学工業装置における鉄鋼および製品中の合金元素の蛍光X線分光分析法
  • T/NAIA 0128-2022 水酸化アルミニウムの迅速定量 蛍光X線分析法（打錠法）による元素含有量の定量法

KR-KS, 単結晶X線分析

  • KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
  • KS D 1655-2008(2019)(英文版) 鋼の蛍光X線分析方法
  • KS D ISO 17054-2018 蛍光X線分析法（XRF）による高合金鋼の従来の分析方法
  • KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正
  • KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • KS D ISO 17054-2018(2023) 近接場技術を使用した蛍光 X 線分光法 (XRF) を使用して高合金鋼を分析する従来の方法

British Standards Institution (BSI), 単結晶X線分析

  • BS ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
  • BS ISO 17867:2020 粒子径分析 小角 X 線散乱 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散乱
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法
  • BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • 20/30360821 DC BS ISO 22278 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質を判定する試験方法
  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析・X線分光分析・薄膜分析レポート
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
  • BS ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折を用いた呼吸可能な石英の分析 間接分析法
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環境分析への応用
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 蛍光X線法による化学分析
  • BS EN 15305:2008 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • BS EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析（蛍光X線法はオプション）湿式化学分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光計、エネルギー準位の校正
  • BS ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折を使用した呼吸可能な石英の分析 直接濾過法
  • BS ISO 17470:2014 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光分析を使用した定性点分析のガイド。
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深さプロファイリング 単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
  • PD ISO/TR 12389:2009 セメント試験方法 試験計画報告書 蛍光X線化学分析
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析 シリコン酸化膜厚測定
  • BS EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法） 湿式化学分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）湿式化学分析
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
  • BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • BS 1902-9.1:1987 耐火物の試験方法 第9部 化学分析装置法 第1節 ケイ酸アルミニウム耐火物の蛍光X線分析法
  • BS EN 10315:2006 隣接技術を使用した蛍光 X 線分光法 (XRF) を使用した高合金鋼の分析のための従来の方法

International Organization for Standardization (ISO), 単結晶X線分析

  • ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス） 平行X線ビームX線回折法による単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線スパッタリング法
  • ISO 17867:2020 粒子径分析、小角X線散乱(SAXS)
  • ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析
  • ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
  • ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 パート 2: 間接分析法
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
  • ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 その 1: 直接濾過法
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
  • ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
  • ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
  • ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 第2部 蛍光X線法による化学分析
  • ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、バックグラウンド測定手順
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法 バックグラウンド測定手順
  • ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート2：湿式化学分析
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
  • ISO 12677:2011 蛍光X線(XRF)を用いた耐火物の化学分析 キャストビード法
  • ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
  • ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
  • ISO/TR 12389:2009 セメントの試験方法 蛍光X線による化学分析試験手順報告書
  • ISO 12980:2000 アルミニウム製造に使用される炭素材料電極用の生コークスおよび焼成コークスの蛍光X線分析
  • ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
  • ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • ISO 10058-2:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 2: 湿式化学分析
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
  • ISO 17054:2010 蛍光X線分析法（XRF）近似技術を使用した高合金鋼の従来の分析方法
  • ISO 15632:2021 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 15632:2002 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度の再現性と安定性

RU-GOST R, 単結晶X線分析

工业和信息化部, 単結晶X線分析

  • YS/T 1178-2017 アルミニウムスラグの相分析 X線回折法
  • YB/T 172-2020 X線回折法による珪石れんがの定量相分析
  • YS/T 1344.3-2020 錫ドープ酸化インジウム粉末の化学分析法その３：相分析Ｘ線回折分析法
  • YS/T 1160-2016 工業用シリコン粉末の定量相分析 シリカ含有量の定量 X線回折K値法
  • YS/T 1033-2015 蛍光X線分析による乾燥浸透防止材の元素含有量の測定
  • YS/T 483-2022 銅及び銅合金の分析方法 蛍光X線分析法（波長分散型）
  • YS/T 806-2020 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析法 元素含有量の測定 蛍光X線分析法
  • YS/T 575.23-2021 ボーキサイト鉱石の化学分析方法 第 23 部：元素含有量の測定 蛍光 X 線分析法

German Institute for Standardization, 単結晶X線分析

  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
  • DIN 51418-2:2015-03 線分光分析 X 線発光および X 線蛍光分析 (XRF) 第 2 部: 測定、校正、および結果の評価の定義と基本原理
  • DIN IEC 62495:2011 核機器、小型 X 線管を使用したポータブル蛍光 X 線分析装置 (IEC 62495-2011)
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009-01 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 線測光、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF)、パート 2: 測定、校正、結果の評価の定義と基本原理、追加情報と計算例
  • DIN EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X線回折解析による非破壊検査 残留応力解析の検査方法
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 顔料、二酸化チタン顔料、分析方法、蛍光 X 線分析による検量線の作成。
  • DIN EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法。
  • DIN 50443-1:1988 半導体プロセスで使用される材料の検査その1：X線形状測定による半導体単結晶シリコンの結晶欠陥や不均一性の検出
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 顔料 二酸化チタン顔料 分析方法 蛍光 X 線分析による微量成分の測定例
  • DIN EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 アルミノケイ酸塩耐火物の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) - パート 2: 湿式化学分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）その2：湿式化学分析
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
  • DIN 6855-2:2005 核医療機器の品質管理 その2：単光子トモグラフィー用回転検出ヘッドを備えたアングル型ガンマ線カメラおよび平面シンチグラフィー用単結晶ガンマ線カメラの安定性試験
  • DIN 6855-2:2013 核医療機器の品質管理 その2：単光子トモグラフィー用回転検出ヘッドを備えたアングル型ガンマ線カメラおよび平面シンチグラフィー用単結晶ガンマ線カメラの安定性試験
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 蛍光X線(XRF)キャストビーズ法による耐火物製品の化学分析
  • DIN 51440-1:2003 ガソリン試験 リン含有量の測定 パート 1: 波長分散型 X 線分光分析
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) - パート 2: 湿式化学分析
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート2：湿式化学分析
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線法代替） - 第2部：湿式化学分析
  • DIN 51729-10:1996 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 パート 10: 蛍光 X 線分析 (RFA)
  • DIN EN ISO 14597:1999 鉱物油製品 バナジウム、ニッケル含有量の測定 波長分散型蛍光X線分析法
  • DIN 51729-10:2011-04 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 第 10 部：蛍光 X 線分析
  • DIN 51729-10:2011 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 パート 10: 蛍光 X 線分析
  • DIN EN 10315:2006 隣接技術を利用した蛍光X線分光法(XRF)を用いた高合金鋼の従来の分析方法
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
  • DIN 51396-2:1998 潤滑剤の試験 摩耗した部品の特定 パート 2: 波長分散型蛍光 X 線分析 (XRS)
  • DIN 51431-2:2004 潤滑剤の試験 マグネシウム含有量の測定 パート 2: 波長分散型 X 線分光法 (XRF)
  • DIN 51396-2:2008 潤滑剤の試験 摩耗した部品の特定 パート 2: 波長分散型蛍光 X 線分析 (XRS)
  • DIN 51390-2:1997 鉱物油製品の試験 シリコン含有量の測定 パート 2: 波長散逸型蛍光 X 線分析 (RFA) 法

Professional Standard - Machinery, 単結晶X線分析

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 単結晶X線分析

American Society for Testing and Materials (ASTM), 単結晶X線分析

  • ASTM E1621-21 X線発光分光分析の標準ガイド
  • ASTM F847-94(1999) 単結晶シリコンウェーハ上の基準面の結晶方位を X 線で測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D5380-93(2009) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(1998) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2014) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM E1621-05 X線発散分光分析の標準ガイド
  • ASTM E1085-95(2004) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E572-94(2000) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-90(1999) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E572-94(2000)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-02(2021) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分析の分析方法
  • ASTM D5381-93(2003) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E2465-11e1 X線分光法によるニッケル基合金の分析のための標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM E3294-22 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E1621-13 波長分散型蛍光X線分析法による元素分析のスタンダードガイド
  • ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
  • ASTM D2332-84(1999) 波長分散蛍光X線による水形成堆積物の分析の標準的な手法
  • ASTM E539-90(1996)e1 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E539-02 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E539-06 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E3294-23 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1085-09 蛍光X線分析による低合金鋼の分析の標準試験方法
  • ASTM E2465-19 蛍光X線分析によるニッケル基合金の分析の標準試験方法
  • ASTM E539-11 蛍光X線分析によるチタン合金の分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-02 X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2007) X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM C1416-99 蛍光X線による天然水および廃水中のウラン分析の標準試験法
  • ASTM C1416-04 蛍光X線による天然水および廃水中のウラン分析の標準試験法
  • ASTM E1621-94(1999) 波長分散型蛍光X線分析法による元素分析のスタンダードガイド
  • ASTM D2332-08 波長分散型蛍光X線を用いた水質分析の標準的な手法
  • ASTM E1621-22 波長分散型蛍光X線分析法による元素分析のスタンダードガイド
  • ASTM D2332-13 波長分散型蛍光X線を用いた水質分析の標準操作手順
  • ASTM D2332-84(2003) 波長分散型蛍光X線を用いた水質分析の標準操作手順
  • ASTM C1416-04(2009) 蛍光X線による天然水および廃水中のウラン分析の標準試験法
  • ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E539-19 波長分散型蛍光X線分析法によるチタン合金の分析の標準試験法
  • ASTM D2332-13(2021) 波長分散型蛍光X線による水性沈殿物の分析の標準的な手法
  • ASTM E539-07 6アルミニウム4バナジウムチタン合金の蛍光X線分析の標準試験方法
  • ASTM E2465-11 波長分散型蛍光X線分析法によるニッケル基合金の分析の標準試験方法
  • ASTM E1085-22 波長分散型蛍光X線分析法による低合金鋼の分析の標準試験方法
  • ASTM E2465-13 波長分散型蛍光X線分析法によるニッケル基合金の分析の標準試験方法
  • ASTM D6247-98(2004) 蛍光X線分析によるポリオレフィン中の元素含有量分析の標準試験法
  • ASTM E1031-96 X線分光法による製銑および製鋼スラグの分析のための標準試験方法（2002年廃止）
  • ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
  • ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
  • ASTM D8064-16 複数の単色励起光を用いた単色エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌および固形廃棄物の元素分析の標準試験法
  • ASTM D6247-98 蛍光X線分析によるポリオレフィン中の元素含有量分析の標準試験法
  • ASTM E572-02a(2006)e2 蛍光X線分析によるステンレス鋼および合金鋼の分析の標準試験方法
  • ASTM D7751-11e1 蛍光X線分析による潤滑油添加剤元素定量の標準試験法
  • ASTM F2980-13(2017) フィールドポータブル蛍光X線（XRF）を使用したガラス中の重金属分析の標準試験方法

Association Francaise de Normalisation, 単結晶X線分析

  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶性シリカの分析その2：間接分析法
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • NF EN 1330-11:2007 非破壊検査 - 用語 - パート 11: 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 基本原理
  • NF EN 13925-2:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 2: 手順
  • NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 3: 装置
  • NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 1: 一般原則
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶質シリカの分析その1：直接ろ過法
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
  • NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • NF EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • NF ISO 16258-2:2015 職場空気中の X 線回折による結晶質シリカの呼吸可能成分の測定パート 2: 間接分析法
  • NF ISO 16258-1:2015 作業場空気X線回折法による結晶性シリカの吸入性フラクションの測定その1：直接ろ過分析法
  • NF EN ISO 12677:2011 蛍光X線法～溶融ビーズ法による耐火物の化学分析
  • NF T25-111-3:1991 炭素繊維 - 組織と構造 - パート 3: X 線回折の方位角分析
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 非破壊検査 - X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF S92-502:2006 医療生物分析研究所、人間の放射線学、肺の計数、低エネルギー X 線およびアルファ線放射体 (200 keV 未満)
  • NF X21-003:2006 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分布定量分析ガイド X線分光分析
  • NF A09-285:1999 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 蛍光X線分析による石油製品中のバナジウムおよびニッケル含有量の測定
  • NF A11-103:1977 フェロニオブ合金の化学分析、蛍光X線分析によるニオブの定量
  • XP A06-379-1999 波長散乱蛍光X線分光法の日常使用のための標準の開発ガイドライン
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析 パート 2: X 線回折 (XRD) 法。
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）その2：湿式化学分析
  • NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 蛍光X線(XRF)ビーズ溶融法による耐火物製品の化学分析
  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
  • NF X11-683:1981 液体内のさまざまな高さで重力により堆積した粉末粒子の分析 X 線吸光分析
  • NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。
  • NF X21-008:2012 マイクロビーム分析 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 鉄系金属材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるフェロシリコン中のSi、Alの定量
  • NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 2: 水分化学分析
  • NF EN ISO 21587-2:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替法) 第 2 部: 湿式化学分析法
  • NF EN 16424:2014 廃棄物の特性評価 - ポータブル蛍光 X 線分析装置を使用した元素組成決定のためのスクリーニング方法
  • NF B49-401*NF ISO 16169:2018 ISO 12677 蛍光 X 線 (XRF) 分析用の炭化ケイ素および同様の材料を調製するためのキャスト ビーズ法
  • NF EN ISO 10058-2:2009 酸化マグネシウムとドロマイト製品の化学分析（蛍光X線代替法） 第2部：湿式化学分析法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 単結晶X線分析

  • JIS K 0181:2021 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • JIS H 1292:2018 銅合金・蛍光X線分析
  • JIS G 1256:1997 鋼・蛍光X線分析装置
  • JIS K 0131:1996 X線回折装置測定分析通則
  • JIS H 1292:2005 銅合金の蛍光X線分析
  • JIS M 8205:2000 鉄鉱石 蛍光X線分析装置
  • JIS R 2216:2005 蛍光X線分析による耐火物の分析方法
  • JIS K 0148:2005 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。
  • JIS H 1631:2008 チタン合金 蛍光X線分析法
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼の蛍光X線分析法
  • JIS G 1351:2006 鉄合金、蛍光X線分析法の分析方法
  • JIS H 1292:1997 銅および銅合金の蛍光X線分析
  • JIS H 1287:2015 ニッケル及びニッケル合金 蛍光X線分光分析法
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼 蛍光X線分析法（変形例2）
  • JIS R 2216:1995 耐火レンガ及び耐火モルタルの蛍光X線分析分析方法
  • JIS R 5204:2002 蛍光X線を用いたセメントの化学分析方法
  • JIS R 5204:2019 蛍光X線を用いたセメントの化学分析方法
  • JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • JIS K 0145:2002 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析 強度スケールの再現性と一貫性
  • JIS K 0189:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法の実験パラメータの決定。
  • JIS Z 4752-2-6:2001 医用画像部門の評価および日常検査 パート 2-6: 安定性検査 コンピュータ断層撮影用 X 線装置
  • JIS Z 4752-2-6:2012 医用画像部門の評価および日常検査 パート 2-6: 安定性検査 コンピュータ断層撮影用 X 線装置
  • JIS A 1481-3:2014 建材製品中のアスベストの測定その3：X線回折によるアスベスト含有量の定量分析
  • JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • JIS T 0306:2002 X線光電子分光法を用いた金属系生体材料の不動態皮膜の状態解析

Professional Standard - Building Materials, 単結晶X線分析

Professional Standard - Nuclear Industry, 単結晶X線分析

European Committee for Standardization (CEN), 単結晶X線分析

  • EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • CEN/TR 10354:2011 鉄金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 シリコンとアルミニウムの定量
  • EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
  • PD CEN/TR 10354:2011 鉄系材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるシリコンとアルミニウムの定量
  • EN 15305:2008 非破壊検査 X 線回折を用いた残留応力解析の試験方法 正誤表の組み込み - 2009 年 1 月
  • EN 10315:2006 隣接技術を利用した蛍光X線分光法(XRF)を用いた高合金鋼の従来の分析方法
  • EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 2: 湿式化学分析 [代替: CEN EN 955-2]

Danish Standards Foundation, 単結晶X線分析

  • DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • DS/EN 15305/AC:2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN 15305:2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/CEN/TR 10354:2012 鉄系金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 Si、Alの定量
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 2: 湿式化学分析
  • DS/EN ISO 12677:2011 蛍光X線(XRF)キャストビーズ法による耐火物製品の化学分析
  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • DS/EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 2: 湿式化学分析
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線法代替） 第2部：湿式化学分析
  • DS/EN 10315:2006 近接場技術を用いた蛍光X線分光法（XRF）を用いた高合金鋼の従来の分析方法

Lithuanian Standards Office , 単結晶X線分析

  • LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • LST EN 15305-2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN ISO 21587-2:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) パート 2: 湿式化学分析 (ISO 21587-2:2007)
  • LST EN ISO 12677:2012 蛍光X線（XRF）キャストビード法による耐火物製品の化学分析（ISO 12677:2011）
  • LST EN 10315-2006 近接場技術を用いた蛍光X線分光法（XRF）を用いた高合金鋼の従来の分析方法

AENOR, 単結晶X線分析

  • UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • UNE-EN 15305:2010 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • UNE-EN ISO 21587-2:2008 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) パート 2: 湿式化学分析 (ISO 21587-2:2007)
  • UNE-EN ISO 12677:2012 蛍光X線（XRF）キャストビード法による耐火物製品の化学分析（ISO 12677:2011）
  • UNE-EN 10315:2007 近接場技術を用いた蛍光X線分光法（XRF）を用いた高合金鋼の従来の分析方法

Professional Standard - Energy, 単結晶X線分析

  • NB/SH/T 6015-2020 X線回折法によるZSM-23モレキュラーシーブの単位胞パラメータの決定
  • NB/SH/T 6033-2021 X線回折法によるZSM-22モレキュラーシーブの単位格子パラメータの決定
  • NB/SH/T 6024-2021 X線回折法によるZSM-5モレキュラーシーブの相対結晶化度の測定
  • NB/SH/T 0339-2021 X線回折法を用いたフォージャサイト型ゼオライトの単位格子パラメータの決定

Professional Standard - Electricity, 単結晶X線分析

  • DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法 第22部：蛍光X線分析法とX線回折分析法

American National Standards Institute （ANSI), 単結晶X線分析

  • ANSI N43.2-2001 X線回折・蛍光分析装置の放射線安全性
  • ANSI/ASTM D6247:1998 蛍光X線分析法によるポリオレフィン中の元素含有量の分析試験方法

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