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原子間力探査機AFM

原子間力探査機AFMは全部で 13 項標準に関連している。

原子間力探査機AFM 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定。

International Organization for Standardization (ISO), 原子間力探査機AFM

• ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• ISO 23729:2022 表面化学分析、原子間力顕微鏡法、限られたプローブサイズの拡大原子間力顕微鏡画像の回復手順のガイド。
• ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順

British Standards Institution (BSI), 原子間力探査機AFM

• BS ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子間力顕微鏡 有限プローブサイズ拡張のための画像回復手順のガイド
• 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析のための原子間力顕微鏡 プローブサイズの拡張を制限した原子間力顕微鏡の画像回復手順のガイド
• BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
• 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順

RU-GOST R, 原子間力探査機AFM

• GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 識別方法
• GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 校正方法
• GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 原子間力探査機AFM

• SPB-M6-2-2010 月 8 日: 原子間力顕微鏡 (AFM) によって測定されたアスファルテンとさまざまな表面の間のコロイド相互作用

German Institute for Standardization, 原子間力探査機AFM

• DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

その他：   原子間力顕微鏡プローブ, 原子間力探査機, AFM 原子力, 原子間力顕微鏡プローブ, AFM原子間力顕微鏡プローブ, AFM原子間力顕微鏡, AFM原子間力顕微鏡, AFM 原子力, 原子間力顕微鏡 afm プローブ, 原子間力顕微鏡afm, 原子間力顕微鏡 afm プローブ, AFM原子間力顕微鏡プローブ, 原子間力AFM, 原子間力AFM, 、原子間力顕微鏡afm, AFM-原子間力顕微鏡, 原子間力顕微鏡afm, 原子間力探査機AFM, 走査プローブ原子間力, 原子間力走査プローブ.