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X線応力解析とX線回折解析

X線応力解析とX線回折解析は全部で 343 項標準に関連している。

X線応力解析とX線回折解析 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 非鉄金属、 耐火物、 発電所総合、 放射線防護、 非破壊検査、 化学製品、 労働安全、労働衛生、 粒度分析、スクリーニング、 無機化学、 建材、 語彙、 金属材料試験、 ブラックメタル、 光学および光学測定、 空気の質、 放射線測定、 原子力工学、 非金属鉱物、 鉄鋼製品、 電子管、 金属鉱石、 半導体材料、 塗料成分、 教育する、 合金鉄、 非鉄金属製品、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 医療機器、 検査医学、 光学機器、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 石油製品総合、 石炭、 水質、 写真撮影のスキル。


PT-IPQ, X線応力解析とX線回折解析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線応力解析とX線回折解析

工业和信息化部, X線応力解析とX線回折解析

  • YS/T 1178-2017 アルミニウムスラグの相分析 X線回折法
  • YB/T 172-2020 X線回折法による珪石れんがの定量相分析
  • YS/T 1344.3-2020 錫ドープ酸化インジウム粉末の化学分析法その３：相分析Ｘ線回折分析法
  • YS/T 1160-2016 工業用シリコン粉末の定量相分析 シリカ含有量の定量 X線回折K値法
  • YS/T 1033-2015 蛍光X線分析による乾燥浸透防止材の元素含有量の測定
  • YS/T 483-2022 銅及び銅合金の分析方法 蛍光X線分析法（波長分散型）

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X線応力解析とX線回折解析

German Institute for Standardization, X線応力解析とX線回折解析

  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009-01 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法。
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X線回折解析による非破壊検査 残留応力解析の検査方法
  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-2:2015-03 線分光分析 X 線発光および X 線蛍光分析 (XRF) 第 2 部: 測定、校正、および結果の評価の定義と基本原理
  • DIN IEC 62495:2011 核機器、小型 X 線管を使用したポータブル蛍光 X 線分析装置 (IEC 62495-2011)
  • DIN EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 線測光、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF)、パート 2: 測定、校正、結果の評価の定義と基本原理、追加情報と計算例
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 顔料、二酸化チタン顔料、分析方法、蛍光 X 線分析による検量線の作成。
  • DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 顔料 二酸化チタン顔料 分析方法 蛍光 X 線分析による微量成分の測定例
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 アルミノケイ酸塩耐火物の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) - パート 2: 湿式化学分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）その2：湿式化学分析

Association Francaise de Normalisation, X線応力解析とX線回折解析

  • NF EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 非破壊検査 - X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF A09-285:1999 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF T25-111-3:1991 炭素繊維 - 組織と構造 - パート 3: X 線回折の方位角分析
  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶性シリカの分析その2：間接分析法
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析 パート 2: X 線回折 (XRD) 法。
  • NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • NF EN 13925-2:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 2: 手順
  • NF S92-502:2006 医療生物分析研究所、人間の放射線学、肺の計数、低エネルギー X 線およびアルファ線放射体 (200 keV 未満)
  • NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 3: 装置
  • NF EN ISO 12677:2011 蛍光X線法～溶融ビーズ法による耐火物の化学分析
  • NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 1: 一般原則
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶質シリカの分析その1：直接ろ過法
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • NF EN 1330-11:2007 非破壊検査 - 用語 - パート 11: 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 蛍光X線分析による石油製品中のバナジウムおよびニッケル含有量の測定
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 基本原理
  • NF ISO 16258-2:2015 職場空気中の X 線回折による結晶質シリカの呼吸可能成分の測定パート 2: 間接分析法
  • NF ISO 16258-1:2015 作業場空気X線回折法による結晶性シリカの吸入性フラクションの測定その1：直接ろ過分析法
  • NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • NF A11-103:1977 フェロニオブ合金の化学分析、蛍光X線分析によるニオブの定量
  • XP A06-379-1999 波長散乱蛍光X線分光法の日常使用のための標準の開発ガイドライン
  • NF X11-683:1981 液体内のさまざまな高さで重力により堆積した粉末粒子の分析 X 線吸光分析
  • NF X21-003:2006 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分布定量分析ガイド X線分光分析
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

Professional Standard - Electricity, X線応力解析とX線回折解析

  • DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法 第22部：蛍光X線分析法とX線回折分析法

American National Standards Institute （ANSI), X線応力解析とX線回折解析

未注明发布机构, X線応力解析とX線回折解析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線応力解析とX線回折解析

  • GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
  • GB/T 30904-2014 無機化学製品の結晶構造解析のためのX線回折法
  • GB/T 19140-2003 セメントの蛍光X線分析の一般原則
  • GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析
  • GB/T 13710-1992 分析用X線管ブランク詳細仕様
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
  • GB/T 16597-1996 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
  • GB/Z 42520-2023 鉄鉱石蛍光X線分析実験室操作ガイド
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 6609.32-2009 アルミナの化学分析法と物性測定法 第32回 α-アルミナ含有量の測定 X線回折法
  • GB/T 29513-2013 キャストガラス板法を用いた鉄含有ダストスラッジの蛍光X線分光分析
  • GB/T 21114-2007 耐火物の蛍光X線分光分析 - キャストガラス板法
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • GB/T 17416.2-1998 ジルコニウム鉱石の化学分析法、蛍光X線分析によるジルコニウム含有量とハフニウム含有量の測定。
  • GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計

Danish Standards Foundation, X線応力解析とX線回折解析

  • DS/EN 15305/AC:2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN 15305:2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • DS/CEN/TR 10354:2012 鉄系金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 Si、Alの定量
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 2: 湿式化学分析

Lithuanian Standards Office , X線応力解析とX線回折解析

  • LST EN 15305-2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則

AENOR, X線応力解析とX線回折解析

  • UNE-EN 15305:2010 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線応力解析とX線回折解析

  • GB/T 36923-2018 真珠粉の識別方法 X線回折分析
  • GB/T 40407-2021 ポルトランドセメントクリンカーの鉱物相のX線回折分析法
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
  • GB/T 16597-2019 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 21114-2019 耐火物の蛍光X線分光分析のための鋳造ガラス板法
  • GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線応力解析とX線回折解析

British Standards Institution (BSI), X線応力解析とX線回折解析

  • BS EN 15305:2008 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • BS ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • BS ISO 17867:2020 粒子径分析 小角 X 線散乱 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散乱
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法
  • BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • BS ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折を用いた呼吸可能な石英の分析 間接分析法
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環境分析への応用
  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析・X線分光分析・薄膜分析レポート
  • BS ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折を使用した呼吸可能な石英の分析 直接濾過法
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 蛍光X線法による化学分析
  • BS EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析（蛍光X線法はオプション）湿式化学分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光計、エネルギー準位の校正
  • BS EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法） 湿式化学分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）湿式化学分析
  • BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
  • PD ISO/TR 12389:2009 セメント試験方法 試験計画報告書 蛍光X線化学分析
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析 シリコン酸化膜厚測定
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • BS EN 12698-2:2007 炭化ケイ素耐火物に結合した窒化物の化学分析 光線回折 (XRD) 法
  • BS ISO 17470:2014 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光分析を使用した定性点分析のガイド。

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X線応力解析とX線回折解析

  • GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

International Organization for Standardization (ISO), X線応力解析とX線回折解析

  • ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線スパッタリング法
  • ISO 17867:2020 粒子径分析、小角X線散乱(SAXS)
  • ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
  • ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 パート 2: 間接分析法
  • ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
  • ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
  • ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 その 1: 直接濾過法
  • ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 第2部 蛍光X線法による化学分析
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、バックグラウンド測定手順
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法 バックグラウンド測定手順
  • ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
  • ISO 12677:2011 蛍光X線(XRF)を用いた耐火物の化学分析 キャストビード法
  • ISO 12980:2000 アルミニウム製造に使用される炭素材料電極用の生コークスおよび焼成コークスの蛍光X線分析
  • ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート2：湿式化学分析

RU-GOST R, X線応力解析とX線回折解析

Professional Standard - Petroleum, X線応力解析とX線回折解析

  • SY/T 5163-1995 堆積岩中の粘土鉱物の相対含有量のX線回折分析法
  • SY/T 5163-2010 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法
  • SY/T 6210-1996 堆積岩中の全粘土鉱物と一般非粘土鉱物のX線回折定量分析法

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線応力解析とX線回折解析

  • ASTM E1621-21 X線発光分光分析の標準ガイド
  • ASTM E1361-90(1999) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2021) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E1621-05 X線発散分光分析の標準ガイド
  • ASTM E3294-22 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E1085-95(2004) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E3294-23 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分析の分析方法
  • ASTM E572-94(2000) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-94(2000)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5381-93(2003) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-02 X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2007) X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X線分光分析における共存元素効果の補正のための標準ガイド
  • ASTM C1271-99 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
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