ZH
EN
ES

метод xps

метод xps, Всего: 6 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к метод xps, являются: Аналитическая химия.

International Organization for Standardization (ISO), метод xps

• ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
• ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.

British Standards Institution (BSI), метод xps

• BS ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
• 19/30399949 DC BS ISO 16531. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, метод xps

• GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

American Society for Testing and Materials (ASTM), метод xps

• ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)

Другие:   XPS, xps怎么分峰, å¦‚ä½•ç ¨XPSè°±å›¾ç¡ ®å®šå…ƒç´ çšä»·æ€, хпс, хпс, метод калибровки xps, молибден xps, хпс, метод калибровки xps, за xps, xps титан, xps таллий, метод коррекции XPS, метод коррекции xps, метод xps, метод xps, хпс хпс, хпс + хпс, xps против xps с высокой энергией, метод измерения xps.