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SJ 20246-1993 高频相位计检定规程

本检定规程规定了高频相位计的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于HP8405A型高频相位计的检定。其它型号的高频相位计(如HP8408A、ZPV-E2、DTI、BX13A、BX23、XPD-1、XPD-2、XPD-3等)，可参照本规程进行检定。

Verification regulation of HF digital phase meter

SJ 20245-1993 低频相位计检定规程

本检定规程规定了低频相位计的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于低频相位计的检定。

Verification regulation of LF digital phase meter

SJ 20244-1993 CY16602型标准大电容箱检定规程

本检定规程规定了CY16602型标准大电容箱的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于CY16602型标准大电容箱的检定，同类型的大电容箱也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model CY16602 standards large capacitance box

SJ 20243-1993 HP4278A型1kHz/1MHz电容表检定规程

本检定规程规定了HP4278A型1kHz/1MHz电容表的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于HP4278A的检定。

Verification regulation of model HP4278A 1kHz/1MHz capacitance meter

SJ 20242-1993 CC—10型大电容测试仪检定规程

本检定规程规定了CC-10型大电容测试仪的检定条件、检定项目，检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于CC-10型大电容测试仪的检定。

Verification regulation of model CC-10 large capacitance measuring instruments

SJ 20241-1993 YG系列匝数仪检定规程

本检定规程规定了YG系列匝数仪的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于YG系列匝数仪的检定，原则上，也适用于其它系列匝数仪的检定，但标准线圈内径器要改变

Verification regulation of YG series coil number tester

SJ 20240-1993 HP4284A型精密LCR测试仪检定规程

本检定规程规定了HP4284A型精密LCR测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于HP4284A型精密LCR测试仪的检定，同类型仪器也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model HP4284A LCR precise measurement instruments

SJ 20239-1993 CO—14型精密十进位电容箱检定规程

本检定规程规定了CO-14型精密十进位电容箱的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于CO-14型精密十进位电容箱的检定，同类型电容箱也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model CO-14 precise decade capacitance box

SJ 20238-1993 ZX—68型、ZX—73型高阻箱检定规程

本检定规程规定了ZX-68型、ZX-73型精密高阻箱的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于ZX-68型、ZX-73型标准高阻箱的检定，也适用于同类型的多个固定接线端钮高阻箱的检定。

Verification regulation of model ZX-68、ZX-73 high resistance box

SJ 20237-1993 GH3123型集成电路自动测试仪检定规程

本检定规程规定了GH3123型集成电路自动测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH3123型集成电路自动测试仪的检定。

Verification regulation of model GH3123 IC automatic tester

SJ 20236-1993 GH2050/51型半导体管特性图示仪校准仪检定规程

本检定规程规定了GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于GH 2050/51型半导体管特性图示仪校准仪的检定。

Verification regulation of the model GH2050/51 calibrator for transistor characteristic tracer

SJ 20235-1993 IC—1500型自动测试仪检定规程

本检定规程规定了IC-1500型自动测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于IC-1500型自动测试仪的检定。

Verification regulation of model IC-1500 automatic tester

SJ 20234-1993 HP4145A型半导体参数分析仪检定规程

本检定规程规定了HP4145A型半导体参数分析仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于HP4145A型半导体参数分析仪的检定。

Verification regulation of model HP4145A semiconductor parameter analyzer

SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

本检定规程规定了IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-Ⅲ型半导体分立器件测试系统的检定。也可参照本规程进行。

Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem

SJ 20232-1993 国洋双栅场效应晶体管GP参数测试仪检定规程

本检定规程规定了国洋双栅场效应晶体管Gp参数测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于国洋双栅场效应晶体管Gp参数测试仪的检定。

Verification regulation of KDK double gate FET Gp tester

SJ 20231-1993 国洋双栅场效应晶体管Yfs测试仪检定规程

本检定规程规定了国洋双栅场效应晶体管Yfs测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于国洋双栅场效应晶体管Yfs测试仪的检定。

Verification regulation of KDK double gate FET Yfs tester

SJ 20230-1993 BJ2951A（JS—5A）型晶体三极管HFE测试仪检定规程

本检定规程规定了BJ2951A(JS-5A)型晶体三极管HFE测试仪的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于BJ2951A(JS-5A)型晶体三极管HFE测试仪的检定。

Verification regulation of model BJ2951A(JS-5A) transistor Hfe tester

SJ 20229-1993 SZ2型雷达示波器检定规程

本检定规程规定了SZ2型雷达示波器的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于带宽由DC～15MHz雷达示波器的检定，对双通道或带宽大于15MHz的雷达示波器也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model SZ2 radar oscilloscopes

SJ 20228-1993 Gould 1421型数字存贮示波器检定规程

本检定规程规定了Gould 1421型数字存贮示波器的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于Gould 1421型数字存贮示波器的检定，其它型号的数字存贮示波器也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model Gould 1421 storage oscilloscope

SJ 20227-1993 QF 3370型频率计数器检定规程

本检定规程规定了QF 3370型频率计数器的检定条件、检定项目、检定方法，检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于QF 3370型频率计数器的检定，其它型号简易频率计数器也可参照本规程进行检定。

Verification regulation of model QF 3370 frequency counter