先进材料实验室分类
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可......
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参......
全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于......
多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数:· 光谱范围:450-1000nm· 多种微光斑自动选......
AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单,测试快速,为一般操作工人设计一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具......
专为VUV 测量设计,整个系统处于真空状态,无氧气吸收。具备高度准确性;独一无二的超快测量速度;快速样品室抽真空能力,方便快速更换样品;氮气消耗量少。产品特点50KHz 高频PEM 相位调制技术45 ......
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现:· 动态模式:实时监测膜厚变化· 光......
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几......