布鲁克推出 XFlash 7，用于电子显微镜元素分析的下一代 EDS 检测器

德国柏林 – 6 月 9 日第， 2022 – 布鲁克公司（纳斯达克股票代码：BRKR）为其 QUANTAX 能量色散 X 射线光谱仪 （EDS） 系统推出了新的 XFlash 7 探测器系列，能够在电子显微镜中以极高的速度、灵敏度和可靠性对材料样品进行化学分析。得益于许多新的和独特的功能，XFlash 7 在学术和工业研究中的用户将受益于进一步提高的分析性能、更高的生产力和更低的拥有成本。

XFlash 7探测器具有多种探测器尺寸、形状和窗口材料，并且基于其前身的纤细概念，所有型号的设计都旨在为样品发射的 X 射线提供最大收集角度，即在给定显微镜样品室几何形状下，主动探测器面积与样品-探测器距离之间的最佳比率。这是缩短采集时间和提高灵敏度的关键，在低kV和电流条件下分析光束敏感样品时，在原子尺度上研究纳米结构时，或在原位实验中进行时间分辨数据采集时尤为重要。

为了将优化的检测效率转化为适合高 X 射线强度的样品的采集时间，XFlash 7 探测器系列的所有型号都采用了布鲁克的新型XPulse数字脉冲处理器。XPulse 基于最新的数字信号处理技术，可实现高达 1,000,000 次计数/秒 （cps） 的吞吐率，从而实现无与伦比的分析速度和生产力。这种高信号吞吐量也完美地支持ESPRIT LiveMap，这是一项用于实时高光谱化学成像的新软件功能，将与 XFlash 7 一起发布。

通过“可维护性设计”，XFlash 7 探测器的任何部件，包括 SDD 传感器模块，都可以在客户现场轻松更换，以防出现任何故障。结合预测性维护，通过新的ESPRIT软件工具实现对相关仪器参数的远程监控，XFlash 7用户可以依靠最长的系统正常运行时间和最低的拥有成本。

“我们很高兴地宣布推出我们的下一代EDS探测器，”布鲁克纳米分析部门电子显微镜分析仪副总裁Andreas Kahl博士评论道。他继续说道：“随着 XFlash 7 的推出，布鲁克再次为 EDS 微纳米分析的性能和功能设定了新的标准。我们进一步增强的ESPRIT软件套件能够将XFlash 7 EDS探测器与互补的分析技术无缝集成，如EBSD、WDS和SEM上的显微XRF，为学术界和工业界的用户提供一套最通用的分析工具，用于在电子显微镜、双光束系统和电子探针显微分析仪中对纳米材料进行定性和定量表征。

XFlash 7 系列的两种型号：用于 SEM 的 XFlash 760 和用于 TEM 的 XFlash 7T60