布鲁克推出 e-Flash XS，用于入门级扫描电子显微镜的新型独特 EBSD 检测器

德国柏林 – 2020 年 6 月 17 日 – 今天，布鲁克推出了 e-Flash XS，这是一款新型电子背散射衍射 （EBSD） 探测器，首次能够在台式和其他小型入门级扫描电子显微镜 （SEM） 中表征晶体材料的微观结构。

德国柏林 – 2020 年 6 月 17 日 – 今天，布鲁克推出 e-Flash XS，这是一种新型电子背散射衍射 （EBSD） 检测器，首次能够在台式和其他小型入门级扫描电子显微镜 （SEM） 中表征晶体材料的微观结构。由于其创新的、正在申请专利的设计，e-Flash XS是目前市面上最小、最轻的EBSD探测器，但具有出色的性能。这使得 e-Flash XS 检测器非常适合在不需要使用高端场发射 SEM （FE-SEM） 的应用中进行常规 EBSD 分析。

e-Flash XS专为实现最大的可靠性、易用性和EBSD图案质量而设计，由最先进的CMOS相机提供动力，具有720x540像素的原始分辨率，并能够在2x2至6x6像素的像素合并模式下使用。结合创新的光学系统，可实现最大的透光率，以及高性能、用户可更换的荧光屏，即使在中等电子探针电流下，该相机也能以高达 525 帧/秒的速度采集图案。其用于供电和数据传输的 USB3.0 接口使 e-Flash XS 成为真正的即插即用仪器。不使用时，用户可以轻松移除EBSD检测器的SEM内部分进行外部存储，以消除SEM样品台与检测器碰撞的任何风险。

新的e-Flash XS系列EBSD 探测器与专门设计的 XFlash EDS 探测器结合使用，两者完全集成在布鲁克的 ESPRIT 2 软件套件下，以创建新的®QUANTAX ED-XS,，一个非常强大且经济实惠的EDS和EBSD组合包，用于入门级SEM中的材料表征。QUANTAX ED-XS 提供定性和定量 EDS 和 EBSD 分析的全部功能，与布鲁克用于高端 SEM 的标准 EDS 和 EBSD 附件一样。直观而强大的 ESPRIT 2 用户界面可实现非常高效的工作流程，用于 EDS 和 EBSD 数据的组合采集、处理和评估，以及多种数据表示选项。专家和经验不足的用户都将受益于对高级工具和集成自动化功能的一键式访问。ESPRIT 2 具有高达每秒 60,000 个方向的无与伦比的索引速度，还允许在几秒钟内离线重新评估 EBSD 数据集。

布鲁克纳米分析部门EBSD高级产品经理Daniel Goran博士评论道：“我们很高兴能够开发出市场上最可靠、最实惠的EBSD探测器，同时又不影响性能。他继续说道：“随着新型e-Flash XS的推出，我们相信布鲁克能够为加快科学技术进步的步伐做出重大贡献，使研究和工业领域的大型桌面和入门级SEM用户能够从EBSD分析的强大功能中受益，这种技术在过去是为更昂贵的高端SEM保留的。

e-Flash XS EBSD检测器;SEM腔室外的主体尺寸：Ø48mm，L84mm