采用样品水平型测角仪、WindowsNT/2000对应的软件、操作非常便利。并且，丰富的选配件支持多种多样的应用。L型则可对应zei大为350mmφ的大型样品。

· XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。
· 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
· 利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行zei大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。

使用XRD-7000进行的刹车盘应力成图分析实例
· 采用强大的多毛细管平行光束系统，可对应凹凸不同的样品的分析，扩大应用范围。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途