该机种有低真空观察型JSM-IT700HR/LV和低真空观察分析型 JSM-IT700HR/LA两种型号。【主要特点】1. 浸没式大束流......
【开发背景】扫描电子显微镜广泛应用于纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等领域，从基础研究到工厂的品质管理等用途也在不断地扩展。不仅以研究为目的，快速高清......
日本电子株式会社(代表取締役社長兼COO 大井 泉)宣布：高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR于2020年8月3日开始全球销售。【开发背景】扫描电子显......
InTouchScope™ 热场发射扫描电子显微镜 JSM-IT700HR 发布—一款好用的扫描电镜—日本电子株式会社(代表取締役社長兼COO 大井 泉)宣布：......
产品规格FIB 离子源 Ga （镓）液态金属离子源 加速电压 1～30ｋV 放大倍率 ×60 （用于视场搜索） ×200～×300,000 图像分辨率......
3D观察功能为了进行3D观察，设备标配连续切片截面观察功能。JIB-4000PLUS虽然是单束FIB，但是可以通过SIM像进行3D观察。用3D重构软件，可以将收......
用户友好的FIB装置JIB-4000PLUS高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性，外观和GUI设计都很友好。 即使没用过FIB也能够轻松操作； 此外，该装置小......
高性能FIB镜筒JIB-4000PLUS采用高性能的FIB镜筒，最大离子束流高达 60 nA，可以扩展到90nA大束流（为可选件），能进行快速研磨。大电流下的快......
JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后，能对样品表面进行SIM观察 、研磨......
■立即分析！Live Analysis分析*²通过显示谱图和显示元素，能确认正在观察中的视野的谱图及主要元素。■立即报告！SMILE VIEWTM L......
■立即观察！ Zeromag观察使用主窗口显示的样品台示意图和光学 CCD 图像 *¹ ，进行视野搜寻和指定分析位置。■立即分析！Live Analy......
■完成样品交换的同时观察开始 样品交换导航样品交换导航是从打开样品室到开始观察过程中进行导航的功能■立即观察！ Z......
立即观察！立即分析！立即报告！JEOL InTouchScope™系列特有的三个功能使分析装置成为一种工具。■完成样品交换的同时观察开始 ......
JSM-IT200是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察SEM图像。Zeroma......
JSM-IT510系列有下面4种配置BU（基本单元）基本类型， 高真空条件下观察A（分析型）分析型，标配EDS能谱LV（低真空型）低真空型，适用于高、低真空操作......
多种高级选项1. NEW 低真空混合二次电子探测器（LHSED）*该新型探测器可以收集电子和光子信号，并提供具有高信噪比和增强形貌信息的图像2. NE......
实时分析/实时引导图*21. SEM观察的同时掌握该区域的元素组成实时分析是一项在图像观察期间实时显示 EDS 光谱或元素图的功能。此功能支持搜索目标元素并提供......
Zeromag轻松实现光学图像与SEM图像之间的无缝转换Zeromag 功能简化了导航，提供从光学图像到 SEM 图像的无缝过渡。 SEM......
简单 SEM只需选择目标视野“简单 SEM”支持日常工作样品：电子元件 加速电压：15 kV，放大倍数：×50（上部） ×1,000（下......
SEM加速电压0.1 ～ 30.0 kV分辨率 (最佳WD时)1.2 nm (15 kV, GB模式)1.6 nm (1 kV, GB模式)倍率x20 ～ 1,......
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