400-6699-117转1000
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工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | JIB-4000 |
品牌: | 日本电子 | 产地: | 日本 |
关注度: | 1681 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
价格范围 | 300万-400万 | 电子枪类型 | 冷场发射 |
放大倍数 | ×60 (用于视场搜索) ×200~×300,000 | 样品台 | 块状样品用 5 轴测角样品台 |
加速电压 | 1~30kV(5 kV/步) |
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JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统
JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观察 、研磨,沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较,SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异,这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
产品特点:
JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后,就能对样品表面进行SIM观察 、研磨,沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较,SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异,这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
高性能FIB镜筒
JIB-4000采用高性能的FIB镜筒,zei大离子束流高达 60 nA,能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨,制备100 μm以上用来观察的截面非常轻松。
用户友好的FIB装置
JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计,建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻松操作,此外,该装置小巧紧凑为业界zei小体积,安装地点的选择范围很大。
双样品台
JIB-4000标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用,此外还可以增配侧插式测角台(TEM用Tip-on 样品架可以直接插入)。块状样品马达驱动样品台能观察整个表面为20 mm x 20 mm的块状样品,样品交换可以通过气锁式系统快速进行。侧插式测角台与JEOL的TEM系统使用的相同,因此Tip-on (尖端上可以安装附件的)样品架与JEOL的TEM系统可以通用,这样,FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。
丰富的附件
有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统,对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件,该系统可以支持样品制备以外的应用。
产品规格
FIB
离子源 | Ga (镓)液态金属离子源 |
加速电压 | 1~30kV(5 kV/步) |
放大倍率 | ×60 (用于视场搜索) |
图像分辨率 | 5 nm (30 kV) |
zei大束流 | 60 nA (at 30 kV) |
可变光阑 | 12 档(马达驱动) |
离子束加工形状 | 矩形、线状、点状 |
样品台 | 块状样品用 5 轴测角样品台 |
主要附件
气体注入系统 (IB-02100GIS2)
碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)
钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)
白金沉积圆筒 (IB-52130WDC2)
侧插式测角样品台 (IB-01040SEG)
束流探测器 (IB-04010PCD)
操作面板(IB-05010OP)
样品台导航系统 (IB-01200SNS)
FIB Tip-on(尖端上可以安装附件的)样品架(EM-02210)
FIB 块状样品用样品架FIB (EM-02220)
FIB 块状样品用样品架1(EM-02560FBSH1)
FIB 块状样品用样品架2 (EM-02570FBSH2)
FE-SEM 样品架适配器 (EM-02580FSHA)
穿梭移动夹头Shuttle Retainer EM-02280 (EM-02280)
原位样品提取系统 (EM-02230)
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途