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日本电子株式会社(JEOL)
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | JEM-ARM300F GRAND ARM |
| 品牌： | 日本电子 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 3181 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 仪器种类 | 场发射 | 价格范围 | 2500万-3000万 |
| 分辨率 | 0.063nm | 加速电压 | 300 kV，80 kV |
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产品特点：
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
两种物镜极靴
为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。
丰富的选购件
能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
大范围的加速电压设置
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV到300kV，使用范围极广。
新开发的真空系统
新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，zei大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm
采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。
ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件
ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
产品规格：
| 分辨率 | 300 kV，80 kV | |
| 物镜种类※1 | UHR极靴 | HR极靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.063nm | 0.082nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 线分辨率0.05nm | 线分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非线性信息分辨极限0.06nm | 非线性信息分辨极限0.08nm |
| 线性信息分辨极限0.09nm | 线性信息分辨极限0.12nm |
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，zei高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。
日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 大范围的加速电压设置报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
