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X射线荧光测厚仪
赛默飞世尔X射线荧光测厚仪（原美国热电）
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仪器简介：集成电路凸点金属化层（凸点下/底部金属化UBM技术）、引线框架、晶圆、激光器件、微波器件、薄膜磁头、柔性电路板等的镀膜（镀层）叠层的测厚及材料分析。......
X荧光测厚仪
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