SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列

发布时间：2022年06月

电子显微镜分析仪器

SEM QUANTAX EDS

XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列

优化的设计            更好的分析

快速、精准、可靠

亮点

1,000,000 cps：有效输出计数可达 1,000,000 cps，无与伦比的分析速度

> 2,200 条元素谱线：包含所有 K，L，M 和 N 线系的全系原子数据库，可以对复杂的数据进行定量分析

> 1.1 sr：更大的采集立体角，优化的几何结构，更快的采集速度，更高的测试效率

用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散谱仪

• 布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS  XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。

• XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。

• XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。

• Slim-line 技术，大立体角设计，最新一代脉冲处理器。

• 更好的能量分辨率和采谱性能。

• 精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。

高效的元素分析

• 每一套EDS系统都独立进行优化，保证以更快的速度得到更精确的结果。

• 更大的输出计数率使测量时间大大缩短，可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。

• 优化的结构设计，可以分析各种高难度的样品。

• 优化的设计降低了背底和吸收的影响，使定量结果更为准确可靠。

• 更低的背底和吸收使检测限更小，可以检测到更低含量的元素。

• 一体化的 ESPRIT 软件平台将EDS, WDS, EBSD 和 微区-XRF 无缝组合，成为一个综合的分析平台，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。

SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列信息由布鲁克电子显微纳米分析仪器部为您提供，如您想了解更多关于SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途