布鲁克电子显微纳米分析仪器部
400-6699-117转1000
热门搜索:
分析测试百科网 > 布鲁克纳米表面 > X射线能谱仪(EDS)
X射线能谱仪(EDS)
布鲁克
清晰的多功能测量装置和细管径几何构型可确保在常规基础上快速可靠的采集 TEM EDS 数据。使用 HyperMap 或谱图获取高光谱成像,我们的软件保存每个像素......
布鲁克
QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系统。这种环形四通道硅漂移探测器实验时位于SEM......
SEM
电子显微镜分析仪器SEM QUANTAX EDSXFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列优化的设计      &n......
XFlash
电子显微镜分析仪TEM QUANTAX EDSXFlash® 7T - 纳米尺度上的彩色图像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS单原子与纳米结构使......
布鲁克
适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了最优的信号采集角和检出角全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,完美匹配低电压分......
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号