仪器简介：

PL Imaging system（光致发光检测系统）是一种全新的应用于太阳能电池缺陷检测的手段，以往的EL Imaging（电致发光）只能用于检测电池片及模组的缺陷检测，而PL Imaging则延伸到了Wafer 的缺陷检测，从而在前一个工序，对产品的质量监控有了一个更有力的保障。

此款产品广泛应用于太阳能电池研究，生产过程品质控制，工艺改良等。同时可提供在线型（in Line) PL系统。

国内部分太阳能电池生产企业及研发机构已使用我司的产品。

检测内容：隐裂（crack, and micro crack,），LBIC， 电极不良，热点，串联电阻，并联电阻，电阻分布，载流子寿命,。。。。

可提供 PL&EL&LBIC 一体机

技术参数：

系统组成：

-K301VIS/IR Imaging 装置

-激光及激光power

-光致发光光学系统

-样品JIG（156*156mm)

-温度控制模块

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主要特点：

-利用电致/光致发光手段同时检测wafer，电池片的各种缺陷。

-不仅适用于单晶，而且也适用于多晶硅及电池片的检测

-测试时间短，精度高

-可以检测到不同于电致发光检测到的缺陷

-对产品可自动分类（sorting）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途