布鲁克X射线荧光测厚M2 BLIZZARD可用于测定电路板，适用于镀层分析项目。并且参考多项行业标准ASTMB568。可应用于多个行业领域。

    M2 BLIZZARD是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界领先的XSpect Pro软件进行控制。
PCB 分析的理想解决方案
开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD主要特性：
1.开槽构型，带可伸长的“超大尺寸”样品台
2.可以调节槽缝间隙（10或20毫米）
3.设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位
4.全新优化XSpect Pro操作软件
5.最先进的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理
6.可自定义设置用户界面和测试结果界面
7.具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档
8.用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
9.“峰值查找器”，用于定性分析未知样品
10.软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
11.配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）
12.可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）
13.仪器设计简洁坚固，只需一条USB电缆与PC连接

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD技术参数

      M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、视界的XSpect Pro软件进行控制。

主要特性：

·  开槽构型，带可伸长的“大尺寸”样品台
·  可以调节槽缝间隙（10或20毫米）
·  设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位
·  全新优化XSpect Pro操作软件
·  先进的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理
·  可自定义设置用户界面和测试结果界面
·  具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档
·  用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
·  “峰值查找器”，用于定性分析未知样品
·  软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
·  配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）
·  可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）
·  仪器设计简洁坚固，一条USB电缆与PC连接

M2 BLIZZARD行业应用：

·  大型印刷电路板-PCB

·  半导体

·  材料科学

PCB分析的理想解决方案

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARDX射线荧光测厚大尺寸镀层测厚仪 适用于镀层分析信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于M2 BLIZZARDX射线荧光测厚大尺寸镀层测厚仪 适用于镀层分析报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途