科睿技术发展有限公司
400-6699-117转1000
首页 公司简介 新闻动态 产品展示 应用文献 资料下载 视频 直播 媒体关注 微信文章 咨询留言 联系我们
热门搜索：
分析测试百科网 > 科睿技术发展有限公司 > 二次离子质谱
非会员

诚信认证:

工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
产品分类
二次离子质谱
飞行时间二次离子质谱
飞行时间二次离子质谱
在线客服
咨询留言
仪器简介： 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TO......
分析测试百科网 | 站点地图 | 律师声明 | 关于我们 | 改善您的体验 | 友情链接 | 联系我们 产品列表
移动版： 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号