光学系统调整自动化——大幅缩短简化了切换光学系统所需的时间和程序，提高整体效率；

CBO技术具有高度灵活性——应用于所有粉末·多晶材料评价

样品位置自动调整，和In-Plane测试相结合——高分辨率的应力·选择取向测试简便化

CBO技术和无需変更系统的In-Plane扫描——实现最强的薄膜评价系统

新开发的In-situ——可以在特殊条件下测试

利用CBO和自动调整装置，仅添加附件即可对纳米材料小角散射测试

主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途