HRD 3000衍射计在分析领域中有很广泛的应用，从纺织品质地到薄膜分析、张力测定和反射计等。
在测定层厚度和分析半导体组分的时候，借助高性能、高分辨率的衍射仪，您可以很轻松地获得很好的结果。
高分辨率的反射计研究中可以借助HRD 3000来确定层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度。

用途：应用SHD 3000 高分辨率X-射线衍射仪来确定物质的层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度
3) 应用
 纺织业
 薄膜分析
 应变测量
 半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度

有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器，微处理器可通过电脑串行接口控制
高亮玻璃和陶瓷的X-射线管，在直线和点的焦点位置快速旋转
X-Y和旋转台的电子管屏蔽
应用Max-FluxTM 光学系统的平行光束光路
Eulerian cradle可以使样品片刻就排列在一起
通过带有光学编码器的步进电动机进行精确定位的高精度，高速度的测角仪
所有电机具有七级自由度
大尺寸X-Y-Z（X，Y，Z可调节，X，Y为150mm，Z为25mm）机械样品支架可以测量200mm的样品圆片或者其他类型的样品
用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo辐射的二级单色器
花岗岩工作台为测角仪提供了高的机械稳定性
降低背景值或提高强度的使用填充氙气的比例、闪烁计数器、固体状态、线性和弯曲位敏检测器（PSD）
使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系统，在32位环境下进行数据处理和仪器控

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途