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首页 > 产品展示 >  > JEOL JMS-S3000 雷射辅助基质离子-螺旋飞行质谱仪

JEOL JMS-S3000 雷射辅助基质离子-螺旋飞行质谱仪

参考报价: 面议 型号: JMS-S3000
品牌: 日本电子 产地: 日本
关注度: 14 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质区域代理产地类别进口
仪器种类IT-TOF价格范围500万-600万
灵敏度 500 amol, S/N > 50分辨率 1 ppm
质量精确度 10 ppm
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  •      为增强解析度让飞行距离变的更长Spiral TOF 使用螺旋式设计, 在较小的空间下可以达到最长飞行距离, 从而可以分析到更高解析度, 分子量准确度也更高

            TOF-TOF(选配)-也可以加强解析度及准确度选择二次串联螺旋飞行质谱TOF-TOF 做结构分析双重质谱MS/MS

            Linear TOF(选配)-可以做更高分子量如蛋白质

     

            螺旋飞行质谱仪使用特殊离子化方式MALDI 基质辅助雷射脱附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)

     

    Spiral TOF-TOF特点
      1.高分子量, 高解度, 高准确度

      2.高精准选择离子单一同位素分析

          ?长距离飞行解析度非常高

          ?由离子源到离子闸门距离15~17公尺

      3.消除PSD衍生离子

      4.高能量碰撞诱导解离-20 keV 实验室瞬间碰撞能量HE-CID分离高活化能键结, 自然单一碰撞重复性高

      5. 一次观察所有离子

      6. 可以测到 m/z几乎大分子物质都可用Spiral Mass
     500,000,

        ?Linear TOF

                离子源与检测器之间有 1.2 m是自由空间

                适合高分子量物质如蛋白质或高分子

                所有离子从加速後都被侦测

                可以测到 m/z 500,000

                几乎大分子物质都可用Spiral Mass 




解析度

60,000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1)

质量解析度

(internal reference)

1 ppm (average error)

质量准确度

(external reference)

10 ppm (average error)

灵敏度

500 amol, S/N > 50

with standard stainless steel plate

雷射

Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz)

应用领域

蛋白质

高分子合成  


JEOL JMS-S3000 雷射辅助基质离子-螺旋飞行质谱仪信息由先驰精密仪器(东莞)有限公司为您提供,如您想了解更多关于JEOL JMS-S3000 雷射辅助基质离子-螺旋飞行质谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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