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工商注册信息已核实!领域: | 电子/电器/半导体 | ||
样品: | 分子聚集体 | 项目: | 电势成像 |
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充分发挥潜力 通过边带KPFM对分子聚集体进行电势成像 |
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功函数是一种材料特性,可用于区分复合材料中的单一成分或用于区分样品与基体。开尔文探针力显微镜(Kelvin probe force microscopy,KPFM)能利用已知的探针功函数,以纳米分辨率去成像样品表面功函数分布。在这里,我们介绍了Park Systems 研究型原子力显微镜中新开发的边带KPFM。边带KPFM显著提高了电势的灵敏度和空间分辨率,从而提高了KPFM测量的准确性和可靠性。