其它光学测量仪布鲁克

Bruker ContourX-2003D光学轮廓仪是一款用于测量表面纹理的台式设备。它采用了先进的特性和可自定义的选项，结合了易用性，可以快速、准确和可重复地进行非接触式3D表面测量。这个小尺寸系统使用了FOV5MP数码相机和新型电动XY位移台，提供了高分辨率的2D/3D测量功能。此外，ContourX-200还配备了业界zui先进的操作和分析软件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简化的功能，可以访问广泛的预编程滤镜和分析库，用于精密加工的表面，厚膜，半导体，眼科，设备，MEMS和摩擦学应用。ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）技术的所有业界公认的优势，而无需限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪。 该轮廓仪展现出低噪声、高速、高精度和高精度结果，适用于行业中的质量控制和过程监控应用。它在反射率从0.05％到100％的所有表面情况下均非常坚固。轮廓X-200WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。通过强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了数千种定制分析，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新相机提供的更大FOV和新型电动XY工作台提供的灵活性，为各种样品和零件提供了更大的灵活性和更高的通量。请咨询18263262536（微信同号）。

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