三维光学显微镜布鲁克是三维表面测量与观察领域的领导者，提供从微观的MEMS（微机电系统）到宏观的发动机腔体等不同大小样品的快速非接触式分析。三维显微镜经历了十代的发展，在原有Wyko®专有技术基础上不断创新，以确保在各种应用环境中能够精确进行三维测量所需的高灵敏度和稳定性。布鲁克三维光学显微系统以其出色的性能稳定性而闻名，得到了业界的高度赞誉。数以千计的系统被广泛用于研究型实验室、生产型车间和半导体无尘间。作为专为先进质量控制和研发设计的测量仪器，它可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和器械领域得到广泛应用。布鲁克总有一款适合您应用和预算的三维光学显微测量系统。
布鲁克ContourX-1003D光学轮廓仪是用于粗糙度测量的简洁经济的台式设备。它以最优惠的价格提供了准确和可重复的非接触式表面计量，采用流线型封装，并结合了数十年的布鲁克白光干涉测量创新技术。该台式系统拥有业界最先进的用户友好界面，可以直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面、厚膜和摩擦学应用的分析。新的增强功能包括新的5MP摄像头、更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会找到比ContourX-100更有价值的台式设备。
布鲁克ContourX-2003D光学轮廓仪是灵活的台式设备，用于表面纹理计量。它将先进的特性、可自定义的选项和易用性融合在一起，提供快速、准确和可重复的非接触式3D表面度量。这种小型系统配备了较大的FOV 5MP数码相机和新型电动XY位移台，可提供无可挑剔的2D/3D高分辨率测量功能，并配备了业界最先进的操作和分析软件Vision64®。ContourX-200还拥有无与伦比的Z轴分辨率和精度，提供了所有业界公认的布鲁克白光干涉仪技术的优势。
ContourX-2003D光学轮廓仪是基于ContourX-200光学轮廓仪超过四十年的专有WLI创新，展现出了定量计量所需的低噪声、高速、高精度和高精度结果。这款轮廓仪可在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征，为不同行业中的质量控制和过程监控应用提供与比例无关的结果。它在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固，为所有目标提供恒定且最终的垂直分辨率。ContourX-200还具有广泛的应用分析能力，为实验室和工厂车间的生产率提供了数千种定制分析，提供了更大的灵活性和更高的通量。Bruker布鲁克ContourX-5003D光学轮廓仪是专门用于3D表面测量的全自动台式设备。
ContourX-500光学轮廓仪是世界上zui全面的自动台式系统，用于快速、非接触式的3D表面测量。它集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头，可以完全编程，以在特定角度范围内测量表面特征，同时最大程度地减少跟踪误差。ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并在更小的占地面积下提供了与布鲁克白光干涉仪（WLI）落地式机型相同的所有业界公认优势。ContourX-500具有领先行业的用户界面，可以直观地访问各种预编程过滤器和分析库。可通过其新的USI通用扫描模式轻松定制分析器，以满足各种复杂应用的需求，包括精密加工表面和半导体工艺的质量保证/质量控制计量学，眼科和MEMS器件的研发表征等。联系我们下载手册。
ContourX-5003D光学轮廓仪轮廓GT-K具有先进的自动化功能，布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头提供了生产设置和检查的无与伦比的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合，布鲁克确保检测点与视线相匹配，与倾斜无关。这有助于减少操作员的干预，提供最大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合，使ContourX-500非常适合满足工业需求中的“按需测量”，并占用小空间。传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员调整五个运动轴，以保持在线的检查点视线进行测量。布鲁克独特的倾斜/倾斜设计在检查点上保持了视线，不受倾斜度的影响，并优化了图像采集和数据记录时间。轮廓X-500WLI为所有目标提供恒定且最终的垂直分辨率。ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能，以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问，超过了同类产品的计量能力。咨询：18263262536（微信同号）。
其它光学测量仪Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)信息由北京亚科晨旭科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于其它光学测量仪Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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