有着超过30年历史的Table Stable已成为主动隔振系统供应商的，且在这个领域上有着相当丰富的经验。于此同时Table Stable测量技术取得了巨大的进......
产品特点* 主控频率1Hz - 200Hz* 被动防振频率 >200Hz* 5-20毫秒的响应时间* 安装简单,容易使用......
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3......
F32薄膜厚度测量仪在线测量的解决方案使用F32可以简单快速地在线测量膜厚。从对膜的顶部和底部反射光谱进行分析可得到实时厚度信息。F32先进的光谱分析系统采用半......
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理，可以测......
F10-HC薄膜厚度测量仪 极具有价格优势的先进薄膜测量系统以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提......
F10-RT薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行低/高......
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型......
Zeta-20 Optical Profiler产品描述Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot技术，......
Zeta-388 Optical Profiler Zeta-388支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实......
P-7 Stylus Profiler产品描述P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D......
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微......
Alpha-Step D-600 Stylus Profiler Alpha-Step D-600探针式轮廓仪能够测量从几纳......
mini 桌上型主动式隔振台全新设计，更易使用，卓越的隔振性能。重要特征*空间6自由度主动减振-拥有全频段出色的抗振动效果，同时没有共振*LCD-加速度时间波形......
P-17 Stylus Profiler P-17支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应......
AVI-600系列 主动式防震系统产品详情 型号 &n......
P-170 Stylus Profiler P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，可提供几纳米至一毫米的台阶高......
Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪-膜厚仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics F40 ......
ERZ创建一个稳定的测量环境稳定的支架可以进一步提高TS系列减震系统的隔震性能主动式隔震系统可以消除震动振幅在20um内的垂直方向和两个水平方向的震动，如果摆放......
AutoSE-一键式全自动快速椭偏仪全自动化&高集成度&可视化光斑操作简单，测试快速，为一般操作工人设计一键式全自动快速椭偏仪 Aut......
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