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1. 方便样品安装的测量探头及对话型软件,操作简单易行从人体工程学的角度改良测量探头结构,能够简单准确地安装各种形变测试模式的样品。配备“简单测量向导”,以简单......
1. 低价格入门型机型与本公司原有机型(SEA1000AⅡ)保持相同价格,同时通过全新采用硅半导体检测器、以及电气控制系和机械驱动的高速化,与原有机型(SEA1......
追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用最理想的镜筒布局,从先进材料、先进设......
1.快速扫描凭借zei大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量,以及借助zei大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台,实现快速扫描测量。......
优异的高效分析性能微型采样方法(已在日本和美国取得专利)已在半导体器件分析领域成为一款工具,它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品,以便......
不断提升的分光光度计技术.....日立分光光度计引领技术潮流 特点:(1)性能---可获得高精度的数据:光源使用长寿命闪烁氙灯光源品质保证期长达7年*......
该装置与大型质谱分析仪(Mass Spectrometer)不同,为HPLC用户提供了具有全新概念的质谱检测器(MS Dector)。可提高色谱数据的可靠性可轻......
IM4000PLUS是支持断面研磨和平面研磨(Flat Milling®*1)的混合式离子研磨仪器。借此,可以用于适用于各种诸如对样品内部结构观察和各类分析等,......
 日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够最大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀......
日立ArBlade 5000离子研磨系统能够实现高产量,并制备广域横截面样品。 离子研磨系统使用通过在表面上照射氩离子束引起的溅射效应来抛光样品的表面。样品预处......
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