芯片自动测试系统 是基于PXI架构的开放式平台，可以根据客户需求定制测试 方案，灵活开放的PXI架构可以实现目前芯片测试的扩展功 能，可根据需求兼容不同厂商的仪器，不必受限于单个 ATE厂商的有限产品。是针对数字芯片、逻辑芯片、传感 器、MCU单片机、MEMS、消费类电子芯片、电源芯片等 芯片测试的

BMS自动测试的核心是基于高精度可编 程电池单体模拟器，通过编程精确模拟锂电 池 、 镍 氢 电 池 等 多 种 电 池 的 充 电 和 放 电 过 程，测试BMS的高温报警、高温保护、低温 报警、低温保护、高压报警、高压保护、低 压报警、低压保护、单体互差报警、单体均 衡测试、过电流、欠电流等工作