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半导体测试产品手册
发布时间：
2022-03-11 14:24
来源：北京汉通达科技有限公司
| 领域： | 手持/便携设备,其他 | ||
| 资料类型： | 样品信息表 | ||
| 资料文件名 | 下载 |
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半导体测试产品手册 |
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芯片自动测试系统 是基于PXI架构的开放式平台，可以根据客户需求定制测试 方案，灵活开放的PXI架构可以实现目前芯片测试的扩展功 能，可根据需求兼容不同厂商的仪器，不必受限于单个 ATE厂商的有限产品。是针对数字芯片、逻辑芯片、传感 器、MCU单片机、MEMS、消费类电子芯片、电源芯片等 芯片测试的高集成度自动测试系统解决方案
