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低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱（Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量......
Hybrid SIMSSIMS能够从无机和有机样品上的亚微米区域获取化学成分信息。从事生命科学应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来，在亚细胞水平上成像和......
TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，......
低能离子散射谱（Low-Energy Ion Scattering ,LEIS)[1]利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样品表面的原子进行弹性碰撞......
催化反应只发生在材料的最表层。低能离子散射谱（Low-Energy Ion Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样......
低能离子散射谱法（low energy ion scattering spectroscopy，LEIS）是2016年公布的化学名词。低能离子散射谱 Qtac-......
低能离子散射被用来研究离子与固体表而的相互作用。实验证实了低能离子与固体原子的碰撞主要为弹性碰撞。低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表......
低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段，例如XPS 、 AES ，它最大的特点是可以把信息深......
点击查看下载 / TOFSIMS 飞行时间 / 型二次离子质谱IONTOF 详细介绍（彩页）相关资料，进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在......
点击查看下载IONTOF / TOFSIMS 飞行时间 / 型TOF-SIMS M6 样品信息表相关资料，进一步了解产品。 M6 是 IONTOF......