IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac

低能离子散射谱 Qtac-100

催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱（Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论，散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析，就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。低能离子散射谱所获得的信息来自样品的最表层，因而是研究表面成分、表面结构以及表面过程的强有力的手段。

ION-TOF公司的Qtac-100型低能离子散射谱仪采用新型离子收集器。

相比传统LEIS系统，灵敏度提高3000倍!

主要特点如下：

1、新型的全方位角离子收集器，可以收集样品表面特定区域的几乎全部反射离子。

2、超高的表面灵敏度，信息深度一般在3个原子层之内。

3、良好的定量特性。

4、离子源可以工作在高束流模式和分析模式之间切换，可以对样品进行清洁和溅射。

5、自动化的真空系统、完善的互锁装置，使操作更简单。

6、最表层原子定量分析。

低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段，例如XPS 、 AES ，它最大的特点是可以把信息深度缩小到单原子层厚度。配合上深度剖析， 则可以实现从表面单原子层成分分布成像，到样品深度方向成分变化等多种测量。

应用：

1、可以与多种生长设备和其他分析设备集成；

2、可用于单原子层沉积过程和生长动力学研究；

3、可用于分析粗糙表面和绝缘材料分析；

4、可用于于材料催化性能研究；

5、可用于生物材料、半导体材料等性能研究

Q-tac 应用实例

Qtac 系统实物

IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac信息由北京艾飞拓科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于IONTOF 低能离子散射谱LEIS Qtac报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途