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- Hybrid SIMS：超高质量分辨双分析器融合系统 发布时间：2024-03-04 14:26
- TOF和OrbitrapTM 双分析器融合系统，超高质量分辨（＞240000），高质量精度（＜1ppm）。适用于定性需求较高的蛋白、脂类等生物样本及未知有机物的定性。01 背景SIMS非常适合从亚微米样品区域获取有机和无机化学信息。这种能力对生命科学应用领域的研究人员来说尤其有趣...... [全文]
- TOF-SIMS在半导体领域的应用（二）——浅层、薄层、界面的深度分析 发布时间：2023-10-05 22:41
- TOF-SIMS在半导体领域有着广泛的应用，如表面痕量金属的检测和定量、工艺过程的有机污染、超浅层深度剖析、超薄介电层分析、界面/bond pad/test pad的分析等等。 TOF-SIMS技术的性能优势主要体现在高质量分辨率、高质量精度和良好的数据速率等方面。另外，低能量、小束斑、高...... [全文]
- TOF-SIMS在半导体器件分析方面的研究进展（一） 发布时间：2023-08-26 14:01
- TOF-SIMS在半导体器件分析方面的研究进展（一）TOF-SIMS在半导体领域有着广泛的应用，如表面痕量金属的检测和定量、工艺过程的有机污染、超浅层深度剖析、超薄介电层分析、界面/bond pad/test pad的分析等等。 TOF-SIMS技术的性能优势主要体现在高质量分辨率、高质量...... [全文]
- 表面分析方法：EDX、AES、XPS、TOF-SIMS 发布时间：2023-08-01 16:20
- 在很多的基础科学研究和工业研究过程中，为了进一步详细地了解研发出来的产品、发生异常的原因、优劣的差异所在、样品本身内在的机理等等，我们就必须要清楚样品表面/浅层/界面的结构和成分构成，就会出现各种各样的表面分析需求。表面分析方法的种类和对应的作用如下图所示非常复杂，如果不是很了解表面分析，我们可能会...... [全文]
- 应用案例——金属材料行业 发布时间：2023-07-07 18:17
- 经典案例：多晶金属氧化物中的扩散过程TOF-SIMS的一个主要优势是可以将高横向分辨率和高深度分辨率相结合。在双束深度剖析中，可以分别独立优化分析束和溅射束并测量化学成分的三维分布。例图所示为La0.8Sr0.2Ga0.8Mg0.2O2.8多晶金属氧化物中扩散过程的三维分析图像，可见Cr，Fe和Y在...... [全文]
- 应用案例——生物材料行业 发布时间：2023-06-14 15:28
- 经典案例：Duchenne 型肌营养不良症的脂质分子离子质谱图TOF.SIMS 5可对每种分子化合物进行独立成像以获得其详细空间分布信息的功能被用来研究患有肌营养不良蛋白缺陷症的实验鼠体内肌肉的退化/再生过程。使用TOF.SIMS 5直接分析未处理的小鼠腿部切片，可以得到各种物质（脂肪酸，...... [全文]
- 应用案例——高分子材料行业 发布时间：2023-06-14 15:23
- 案例一、氟化聚醚的表面质谱高分子材料行业的许多技术领域需要理解和处理表面的分子结构。静态SIMS是获取分子结构信息的理想分析技术，因为它能够以极高的灵敏度检测复杂的大型分子离子和碎片离子，从而提供详细的结构信息。TOF.SIMS 5质量分析器的出色传输率，大质量范围和新型离子源使TOF.SIMS 5...... [全文]
- 应用案例——半导体材料行业 发布时间：2023-06-14 15:19
- 案例一、痕量金属检测 痕量金属的检测和定量是半导体工业中的一个重要分析任务。 TOF-SIMS能够以同位素灵敏度检测所有元素（即使是轻质元素）。 高质量分辨率，高质量精度和良好的信噪比可使灵敏度达到1E7至1E9...... [全文]