SIMS二次离子质谱工作站

Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析，用于的表面成份分析和深度剖析。

SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，综合UHV / SIMS 设备，进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。

 特点

·整合的离子源，便于RGA和SNMS

·各类型样品的快速转向

·阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪

·整合的离子枪光栅控制和信号选通，进行深度分析
·绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和
·液氮冷井和真空室烘烤加热器
·自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表，使SIMS性能最佳

 参数

·Hiden EQS SIMS 分析仪，运行于 MASsoft O/S 之下，检测限至ppb级

·基本的激发源选择： 带差式泵的Hiden IG20 Ion，IFG200 FAB或高性能液态镓枪
·快速样品传递，样品固定，负载锁定的操纵器
·4 轴：X, Y, Z, θ UHV 操纵器，以最佳定位样品
·加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序，进行SIMS元素成像
·静态SIMS谱图库可用

SIMS二次离子质谱工作站信息由北京英格海德分析技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于SIMS二次离子质谱工作站报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途