贝克曼库尔特DelsaNano C电泳光散射固体及薄膜Zeta电位分布分析仪

仪器简介：

        目前能测量固体或薄膜材料的液固介面ZETA电位的仪器很少。而应用电泳光散射的方法，测量液、固介面Zeta电位的仪器仅有贝克曼库尔特公司zei新上市的DelsaNano系列。 

        DelsaNano C是目前惟一的应用电泳光散射及动态光散射原理，同时提供颗粒Zeta电位分布、固体及薄膜液-固表面Zeta电位分布和纳米粒度分布的分析仪。DelsaNnao通过特别设计的固体平板样品池，有效精确地为固体材料、纤维材料、薄膜材料等提供ZETA电位分析。为广大的新材料研究、生产提供先进的、多用途的分析工具。

主要特点：

1.测量固液界面ZETA电位，惟一的应用电泳光散射的技术；

2.操作简单，方便快捷；

3.静态测量与动态测量；

4.待测样品无须特别处理；

5通过探测粒子准确推算表面ZETA电位；

6.分辨率高；

7.同时获得粒子ZETA电位与固体表面ZETA电位；

有效解决了样品高浓度测量的问题，真正解决了小角度正面测量所困扰的多重散射的障碍。是目前惟一的一种能获得高浓度纳米粒度分布与高浓度zeta电位分布的仪器。

1.新一代ELS仪器，采用FST透明电极zl，背散射技术。

2.zei广阔的浓度范围：由低浓度至高浓度。

3.惟一的一种能获得高浓度zeta电位分布与高浓度纳米粒径分布的仪器 

4.多角度测量 

5.自动滴定：动态检测Zeta电位、纳米粒径随Ph值的变化 

6.自动滴定仪可直接由软件控制，备有三个独立滴管，自动计算IEP，自动绘制Zeta电位与pH值的比较图，没有哪种其它类似仪器能够满足以上所有要求。

    DelsaNano C 宽动态（高浓度）纳米粒度分析仪：纳米技术与基因技术、网络技术一起被并称为二十一世纪的“三剑客”， 各国在纳米材料的研究上均投入了极大的人力物力。中国已建立3个国家级的纳米研究中心。 

    DelsaNano C  宽动态（高浓度）纳米粒度分析仪 纳米颗粒的表征主要集中在粒径与表面电势。Zeta电位可以很好地反映颗粒间作用强度，从而可用来预测胶体系统的稳定性。分散体系的Zeta电位 会因为Ph值、电导率、添加剂和颗粒表面的变化而改变。 

    一直以来，市场上许多纳米仪由于采用90度测量，仅能在大倍数稀释样品的状态下分析只能获得平均值，不能进行原液或高浓度样品的测量。因高浓度样品于90度测量时存在多重散射现象而无法获得数据。颗粒粒径极易因环境影响而改变，大倍数稀释往往导致溶液体系稳定性变化。测到的结果无法反应真实状态。 

    DelsaNano C 采用zl的FST技术（透明电极正向散射）与背散射技术，很好地解决了由低浓度到高浓度样品Zeta电位的测量与纳米粒径分布测量的难题。DelsaNnao C宽动态（高浓度）Zeta电位及纳米粒度分析仪是已知的惟一能够测量浓缩样品中微粒zeta电位分布与纳米粒径分布的仪器。