ATGX310系列_光学薄膜厚度测量仪
tel: 400-6699-117 转 2856奥谱天成涂镀层及薄膜测厚仪, 光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP......
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产品型号:ATGX310
品牌:奥谱天成
产品产地:福建
产品类型:国产
原制造商:奥谱天成
状态:在售
厂商指导价格: 20~30万元[人民币]
上市时间: 2018-06-01
英文名称:ATGX310 Optical thin film thickness measuring instrument
优点:光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
参考成交价格: 20~30万元[人民币]
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