尼通手持光谱仪XL3系列
tel: 400-6699-117 转 1000赛默飞X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), XL3t在原有XL2型基础上增加了选配的小点测试和内置CCD摄像头对焦功能,可采用1mm光路准直系统针对焊点,焊缝等小测试区域进行针对性测试。 XL3t采用zei新结构设计,仪器重量仅为1.3kg,携带方便。显示屏采用可90度翻转的高清高亮屏, 任意光线下可读取数据。
咨询留言
产品型号:XL3
品牌:赛默飞
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:赛默飞
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2018-09-07
英文名称:XL3
优点:XL3t在原有XL2型基础上增加了选配的小点测试和内置CCD摄像头对焦功能,可采用1mm光路准直系统针对焊点,焊缝等小测试区域进行针对性测试。 XL3t采用zei新结构设计,仪器重量仅为1.3kg,携带方便。显示屏采用可90度翻转的高清高亮屏, 任意光线下可读取数据。
X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
其他推荐
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 尼通手持光谱仪XL3系列 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- SN/T 3916-2014 钼精矿中钼、铁、铅、铜、硅、钙元素的含量测定 波长色散X射线荧光光谱法
- EJ/T 1212.3-2008 烧结氧化钆-二氧化铀芯块分析方法.第3部分:波长色散x射线荧光光谱法测定氧化钆含量
- IPC 4554 CHINESE 2007(2012) IPC 4554 CHINESE 2007(2012)
- SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
- DB34/T 3368.1-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分:铅、汞、铬、镉和溴 的快速筛选 X 射线荧光光谱法
- SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2780-2011 氧化铝中铅、镉、铬的测定 波长色散X射线荧光光谱法
- SN/T 2763.6-2014 红土镍矿化学分析方法 第6部分:镍、钙、钛、锰、铜、铬、锌、磷含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
- GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法