X荧光光谱镀层测厚仪XU-100

产品简介:          

XU-100高性价比型膜厚仪全新下照式设计、性价比高、适用性强，轻松快速解决各种平面件、异形件及电镀液的检测，且能自动判定测试结果。
性能介绍      
1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统
2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm
3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）
4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测
5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层最低检出限：0.005μm
6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作
7）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%