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大行程全自动X射线荧光镀层测试仪XAD/XTD

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苏州实谱X射线荧光测厚仪, 全新上照式设计,保留原有四焦技术同时,搭载全自动大行程移动平台和影像识别功能,既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的......

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产品简介:          

全新上照式设计,保留原有四焦技术同时,搭载全自动大行程移动平台和影像识别功能,既能检测纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及全元素成分分析,
无论是一个还是一批样测试都能实现精准、快速、高效可编程自动平台可达600mm*600mm*30mm(高度可定制60mm)


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