K-8000T镀层厚度分析仪

商品参数        

镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法

测量镀层范围：0-50um

检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡

分析精度：单层电镀相对误差不超过10%

检测时间：15-20秒

检测窗口：12mm

合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素

仪器参数：

1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。

     固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片

2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)

3、运算方法：KMX-FP无标样测试法

4、标配1个电池