双模式表面三维轮廓仪_讨论群

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双模式表面三维轮廓仪

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阿尔派轮廓仪/粗糙度仪, 仪器简介： NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构：粗糙度,波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等 2、二维图像分析：距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量 6、微电子表面分析和MEMS表征

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