技术特点
【技术特点】-- 日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面,标准配备参数自动设置功能(RealTune® II),即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时,也能快速获得准确的测量数据。
1. RealTune® II 最新的参数自动设置功能
独有的参数自动设置功能!
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数,可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况,高效率、高精度地调整成最合适的测量条件。通过新增加的参数自动设置功能(RealTune® II),可实现一键(One Click)测量。
原来需要专业操作才能完成的测量,现在即便是新手也可以轻松胜任。也可用于高难度样品。
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体(壁虎胶带)
【样品提供:日东电工股份公司】
以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整,操作难度很高,并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动设置成最合适的条件,可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜(并五苯多结晶薄膜)
【样品提供:神户大学北村研究室】
以往的方法这种样品,表面容易损坏,易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
新处理方法
自动设置成最合适的条件,稳定地测量分子级别上的台阶结构。
2. 全新的图标用户界面(Graphical Use Interface)
简单的菜单设置
明了易懂的图标、严格筛选的图片信息,无论是初学者还是有经验的操作员,都能够轻松掌控!
可通过选项卡在测量及分析之间相互切换,画面简洁明了。
3. 3D覆盖功能
能够将样品形貌及物理特性叠加显示,并能构画出3D画面,可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
5. 小型化设计
轻便的小型化外形,适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
【技术特点对用户带来的好处】-- 日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
【典型应用举例】-- 日立扫描探针显微镜控制器AFM5000II/RealTune®II
经销商
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